中古 KEM / KOKUSAI VR-120SD #9095788 を販売中
URL がコピーされました!
タップしてズーム
KEM/KOKUSAI VR-120SDは、あらゆる種類の表面欠陥、汚染、およびプロセス変動を検出するように設計されたマスクおよびウェハ検査装置です。このシステムは、浅いトレンチ絶縁(STI)と、幅広い基板と厚さのSiGeなどのさまざまな先端材料と材料の組み合わせの両方を検査することができます。このユニットには、詳細な欠陥キャプチャと分析のための統合された2D/3Dカメラ、およびIndustry 4。0対応の製造プロセス制御マシンが含まれています。KEM VR-120SDは、業界をリードする最新のFurtto D9検査アルゴリズムを搭載しており、超高速画像取得と欠陥の正確な分析が可能です。10ミクロン以上のサイズの微小欠陥を誤警報率なしで正確に測定することができます。このツールは、STIと抵抗、応力、組成などの高度な計測の側面の両方をスキャンするように設定でき、最高の精度を保証します。アセットの直感的なUX/UIとユーザーフレンドリーなタッチスクリーンインターフェイスは、検査プロセスを簡素化するわかりやすいインターフェイスをユーザーに提供します。さらに、検査パラメータをカスタマイズするための幅広いオプションを備えており、一貫性のある正確な検査結果を保証します。KOKUSAIは高品質な画像取得をVR-120SDだけでなく、画像フィルタリング、コントラスト調整、欠陥分類などの高度な機能も提供しています。VR-120SDには、欠陥レポート、プロセス終了データ収集、バッチ要約レポート、幅広いフォーマットのデータエクスポートなど、さまざまな追加機能も用意されています。さらに、オープンアーキテクチャで設計されており、テストおよびプロセス制御環境における他のデバイスとの効率的な統合、生産性の向上、サイクル時間の短縮を可能にします。結論として、KEM/KOKUSAI VR-120SDは、幅広い欠陥を検出できる強力で汎用性の高いマスクおよびウェーハ検査装置です。このシステムは、画像キャプチャや分析などの高度な機能を提供するだけでなく、バッチサマリーレポートや直感的なUIなどの追加機能を利用して検査プロセスを簡素化することができます。
まだレビューはありません