中古 K-MAC ST 8000 #9195381 を販売中

K-MAC ST 8000は、光学顕微鏡とデジタルイメージングを組み合わせ、高度な半導体製造プロセスにおける欠陥を正確かつ高速に検出する高度なマスクおよびウェハ検査装置です。このシステムは、テクスチャリング、ウェハ構造、絶縁欠陥、過剰材料、異物、傷、構造欠陥など、幅広い機能を検出することができます。ST 8000の主な構成要素は、X-Yステージ、照明源、高解像度デジタルカメラ、画像解析装置、現場機能を備えたエリアスキャンフィルタ、および幅広い自動試験および測定ツールです。ステージは最大16mm/sの高速移動が可能であり、デジタルカメラは最大解像度5。3メガピクセルの画像をキャプチャすることができます。イメージアナライザは、さまざまな種類の欠陥を識別し、サブミクロンの精度で測定を行うことができます。さらに、自動テストおよび測定ツールは、収集された欠陥に基づいてさまざまなレポートを提供します。また、K-MAC ST 8000はウェーハ表面の内部解析を行うことができ、欠陥の種類をより正確に特定することができます。このマシンのin-situ機能は、ウェーブレットベースの異常検出とテクスチャセグメンテーションという2つの分析技術を組み合わせて使用します。この分析はリアルタイムで行われ、即時フィードバックとより徹底した検査および分析プロセスを可能にします。ST 8000は、半導体製造プロセスの効率を向上させ、より迅速で正確な欠陥検出を提供するように設計されています。さらに、このツールはユーザーフレンドリーで、特定の生産要件を満たすようにカスタマイズできます。この資産は、最高水準の品質管理に努め、投資から最大限の利益を得たいウェーハおよびチップメーカーに最適です。