中古 ICOS WI-2000 #9239642 を販売中

ICOS WI-2000は、ハイスループットのサンプル品質検査と欠陥検出を可能にする統合マスクおよびウェーハ検査装置です。各ユーザーの特定のアプリケーションとプロセスに合わせた自動化されたソリューションで、さまざまなマスクとウェーハサイズを検査することができます。WI-2000は、包括的な計測機能と統合された高度なコンピュータ支援検査技術を提供しています。これにより、データのインポートとエクスポート、マスクアライメント、検出された欠陥の詳細な分析、およびオーバーヘッド時間とコストを削減する合理化されたワークフローを使用して、高速で正確で繰り返し可能なサンプル測定が可能になります。ICOS WI-2000は、高度な画像処理アルゴリズムと統合された最先端のカメラシステムを搭載しています。ハイコントラストの欠陥や任意のサイズの特徴など、高解像度のマスクとウェーハ画像をキャプチャします。自動化された欠陥検出ユニットは、サンプルサーフェスを自動的にエラーなしで検索してフィーチャーを選択して測定するために統合されています。一方、一連のマスクアライメントアルゴリズムにより、適切なサンプルの位置決めが保証されます。この機械の光学計測および検査機能は、特徴と欠陥の測定を自動化するためのコンピュータビジョンツールによって強化されています。サンプル位置またはマスク輪郭測定は自動化され、高度なエンジニアリングツールにより、パターン認識と事前定義された標準との比較が可能になります。さらに、WI-2000には、データのインポートとエクスポート、画像と欠陥データの比較、ヒストグラム分析、チャートなどの複雑なタスクを自動化する柔軟で強力なソフトウェア駆動ツールが含まれています。また、3Dデータレンダリング、データ分析、レポート生成もサポートしており、複雑なデータを迅速かつ簡単に視覚化および解釈できます。ICOS WI-2000は、自動化されたマスクとウェーハ検査と計測の組み合わせと、直感的なユーザーフレンドリーなソフトウェアを組み合わせて、短時間で正確で信頼性が高く、再現可能な結果を提供します。これにより、半導体デバイス製造環境において、正確なマスクおよびウェハ検査および欠陥検出のための強力なツールとなります。