中古 HITS HFAI-1000D #293670434 を販売中

HITS HFAI-1000Dマスク&ウェーハ検査装置は、マスクおよびウェーハ検査のための高度に自動化された高精度なソリューションです。このシステムは、要求の厳しい品質保証、故障検出、および最新の半導体生産ラインの高度な欠陥検出ニーズを満たすように設計されています。高精度のXYZステージと、高度なストロボ、ホワイトライト、UV照明を備えた先進的な光源技術を備えています。コンパクトなキャビネットに収納されたHFAI-1000Dは、シンプルで直感的なユーザーインターフェイスを備えており、簡単なナビゲーションと正確な制御を可能にします。暗い視野から明るい視野または斜めまで、オートズームを含むさまざまな光学技術を適用し、欠陥のサイズと形状を正確に特定することにより、生成される画像の品質がさらに向上します。さらに、このマシンは高度な故障検出および欠陥解析機能を備えており、オプションのソフトウェアパッケージを使用することで、何百もの欠陥解析に統合されたアプローチを提供し、正確で信頼性の高い検査結果を生成します。この統合アプローチは、認定精度を大幅に向上させ、故障検出および欠陥解析に要する時間を短縮するように設計されています。このツールの最先端の設計と機能により、他のマスクやウェーハ検査システムとは一線を画しています。アセットも完全にカスタマイズ可能で、顧客の要件に応じて、さまざまな検査オプションが付属しています。このモデルは、統合された構成、最適化されたプロセス、およびリアルタイムのサイクルタイム測定とともに、オンデマンドの生産サポートを提供することができます。HITS HFAI-1000Dは、中規模から大量生産に適しており、お客様に最大限の柔軟性を提供するよう設計されています。さらに、完全HFAI-1000D統合された設計、自動蛇口アプローチ、高速画像ベースの位置決定などの高度なハードウェア機能も備えています。その高度なソフトウェア機能により、大量のサーフェスデータを収集し、大規模データセット上で迅速なリアルタイム欠陥解析が可能になります。また、高速目視検査をサポートする自動欠陥認識や分類などの高度な画像機能も搭載しています。全体として、HITS HFAI-1000D Mask&Wafer Inspectionシステムは、信頼性の高い効率的なパフォーマンスを必要とする半導体メーカー向けの先進的なソリューションです。