中古 HITACHI LS 6800 #9221446 を販売中

HITACHI LS 6800は、先進的な半導体製造施設で使用するために設計された業界トップクラスのマスク&ウェハ検査装置です。このラインツールの最上部では、高解像度のイメージング、自動品質管理、および複数角度の光源を可能にし、完全な構築までの最大精度を保証します。最先端の3Dセンシング技術、高速画像キャプチャ、直感的なグラフィカルインターフェースを備えたHITACHI LS6800は、現代の半導体開発に最適です。このシステムは、20 100µmの解像度の画像をキャプチャするイメージキャプチャユニットを含む、堅牢な検査技術と機能を提供します。LS 6800は特徴抽出機械を使用して深い特徴を識別し、分析し、自動化された欠陥検出を提供します。さらに、AngleSelectツールを使用すると、さまざまな角度から検査を選択できます。LS6800はまた、2Dパターン、3D構造、およびフォトマスクの検査オプションの範囲を提供しています。アセットの中心にあるのは、最先端の3Dセンシング技術です。HITACHI LS 6800は、強力なレーザーモデルを活用することにより、基板からの情報を迅速かつ正確に収集し、インテリジェントな自動検査に使用する多次元レリーフから有意義なデータを抽出することができます。シリコン、有機、サファイア、石英、その他の非導電面など、さまざまな材料で動作します。カメラは最適な性能のために角度パターンで設計されています。HITACHI LS6800は、品質管理のために、柔軟で強力な分類装置を使用して、サンプルの健康状態を迅速に評価します。傷、粉塵粒子、フォトマスク欠陥など、さまざまな欠陥タイプを評価できます。これにより、ユーザーは期待する高い製品品質を確保することができます。さらに、このツールには豊富なオペレータ支援機能があり、あらゆるステップでガイダンスを提供します。LS 6800は、最新の半導体産業の要求に応えるように設計された高度なマスク&ウェーハ検査システムです。堅牢な品質管理機能、20 100µm解像度のイメージング、強力な3Dセンシング技術を備えたLS6800は、精度と利便性を求めるプロにとって理想的な選択肢です。