中古 HITACHI LS 6800 #9149619 を販売中

HITACHI LS 6800
ID: 9149619
ウェーハサイズ: 8"-12"
Non-pattern wafer particle inspection system, 8"-12" 40 nm.
HITACHI LS 6800は、日立ハイテクノロジーズが開発した業界トップクラスのマスクおよびウェハ検査装置です。このシステムは、半導体ウェーハやマスクの欠陥を特定するための信頼性の高い正確なソリューションをお客様に提供するために設計された、高性能で高精度な製品です。このユニットは、さまざまなタイプの製品やプロセスに適用可能な高速、再現性、高精度の検査を可能にする幅広い機能を提供します。HITACHI LS6800は、製品表面の最小欠陥を検出できる独自の光学画像波面解析機能など、さまざまな光学イメージング技術を使用しています。可視光、紫外線、レーザーなど、さまざまな種類の欠陥を識別するためにさまざまな光源が使用されています。このマシンは、ユーザーが特定のニーズに応じて検査速度、機能、および精度レベルをカスタマイズできるさまざまなソフトウェアで構成することもできます。このツールには、さまざまなイメージセンサーや光学部品も含まれており、ユーザーはウェーハやマスクの位置や欠陥サイズを高精度に測定できます。これらのコンポーネントを利用することで、ユーザーは製品の最小欠陥を正確に識別することができます。さらに、光学パターンマッチング機能を使用して、肉眼では明らかではない可能性のある欠陥を特定することができます。ワークフロー全体を改善するために、LS 6800には高度な3D検査アセットが装備されています。このモデルは、複数の角度から画像を分析することができ、1つの角度から隠れているか、見えにくい欠陥を容易に識別することができます。強力なパラメータデータベースにより、ユーザーは特定のジョブやプロセスのパラメータを簡単に保存でき、検査プロセスをより効率的かつ正確に行うことができます。全体として、LS6800は強力で汎用性の高いマスクおよびウェーハ検査装置であり、さまざまな製品やプロセスで正確かつ再現性のある検査を行うことができます。その包括的な機能、イメージセンサー、光学部品は、さまざまな種類の半導体検査要件に最適なソリューションです。HITACHI LS 6800は、信頼性と高性能、そして費用対効果の高い検査システムをお探しのお客様に最適な製品です。
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