中古 HITACHI IS 2700 #9281978 を販売中

HITACHI IS-2700マスク&ウェハ検査装置は、高速かつディープフォーカスイメージング機能を提供できる広く使用されている半導体検査システムです。このユニットは、ウェーハやマスクの検査段階で欠損、余分な、ブリッジ、または総欠陥を確実に検出することにより、集積回路（IC）の製造プロセスを支援するように設計されています。高速動作とディープフォーカス精度により、マイクロバンプ、粒子汚染、地形誤差など、さまざまな欠陥を検出できます。検査プロセス全体の再現性と安定性を確保しながら、最先端のイメージング機能を提供します。IS-2700は、顕微鏡ツールの信号対雑音比を高める、特許取得済みの多画像技術を搭載しています。この資産はまた、測定の精度を向上させるのに役立つスーパーレゾリューション機能を備えたマルチレンズを採用しています。また、HITACHI IS-2700には、画像取得の自動化プロセスが含まれており、特定の画像に最適な画像エンジン設定を選択できるため、ユーザーエラーを排除できます。この機器の統合ソフトウェア機能には、直感的なユーザーインターフェイス、強力な欠陥解析ツール、および強力なデータストレージ機能が含まれます。大量のデータを高精度かつ高速に処理できるパワフルなデータ解析システムを搭載しています。このデータ解析ユニットは、欠陥を迅速かつ正確に識別および分類することができます。最後に、IS-2700はほとんどの自動検査機と互換性があるように設計されており、さまざまな構成で利用でき、既存の製造システムに簡単に統合できます。日立の先進検査技術は、あらゆるIC製造工程において信頼性の高い品質保証を提供します。