中古 HITACHI IS 2700 #9243641 を販売中

HITACHI IS 2700マスク&ウエハ検査装置は、オプトエレクトロニクス半導体デバイス検査の総合ソリューションです。非接触技術による高速パラレルイメージングが特徴で、顕微鏡下の欠陥をリアルタイムに検出できます。このシステムは、マスクやウェーハ基板の検査や、金属層でコーティングされた基板に最も一般的に使用されています。ユニットは光源、カメラ、コントロールユニットで構成されています。光源は光パターンを基板に投影し、カメラが検出できる光の波長を選択する光フィルターを通過します。カメラは基板の画像を記録し、コントロールユニットに送ります。その後、制御ユニットは画像を処理し、元の設計仕様と比較して、基板材料の欠陥を検出することができます。IS 2700マシンは、高解像度のCCDカメラと独自の画像処理アルゴリズムを使用して、基板の非常に小さな欠陥を検出することができます。このツールは、クラック、ボイド、およびその他の種類の変形を含むマイクロレベルの欠陥を検出し、デバイスに障害を引き起こす可能性があります。この資産はまた、デバイスにダメージを与えることができる粉塵粒子に対する高い感度を持っています。このモデルには、操作とナビゲーションが簡単にできるインタラクティブなユーザーインターフェイスが装備されています。これは、メニューとオプションのシリーズだけでなく、画像をアップロードして分析しやすい直感的なソフトウェアを備えています。さらに、装置は、検査のためのオプション、設定、パラメータの配列で、高度に構成可能です。標準的な機能に加えて、HITACHI IS 2700検査システムもユニークなハードウェアコンポーネントを備えています。4つのレーザダイオードセンサーで構成された高速並列イメージングヘッドは、光のパルスを発生させ、基板の広い均一な視野を照らします。これにより、モザイク画像の詳細かつ正確な配置が可能になり、検査の精度と速度が向上します。IS 2700は、オプトエレクトロニクス半導体デバイス検査用の強力で信頼性の高いツールです。マスクやウエハ基板の高精度かつ高速な検査が可能です。非接触技術と高速並列イメージングヘッドにより、マイクロレベルの欠陥を検出するための不可欠なツールとなります。HITACHI IS 2700は、インタラクティブなユーザーインターフェースと設定可能なオプションにより、オプトエレクトロニクス半導体デバイスの効率的かつ正確な検査に最適なソリューションです。