中古 HITACHI IS 2610 #9144002 を販売中

HITACHI IS 2610は、各種半導体ウェーハやフォトマスクの精密・高解像度検査を可能にする高性能マスク・ウェーハ検査装置です。このシステムは、高度な光学イメージング技術を使用して、ナノメートル分解能でウェーハやマスクの欠陥や欠陥を検出します。また、最先端のCAD （Computer Aided Design）プラットフォームを使用して、欠陥を自動的に検出し、データを分析し、検査プロセスを最適化します。このマシンには、デュアルスキャナ設計、パターン認識エンジン、マクロブロックイメージ補正モジュール、自動ビニング機能、および3D欠陥検出のためのステレオ光学ツールが含まれています。この技術の組み合わせは、検査中に最も正確な結果を保証するのに役立ちます。画像研磨プロセスは、詳細な評価と信頼性の高いパターン認識を可能にする高品質の画像を維持します。革新的なパターン認識エンジンは、写真の欠陥を特定し、検査や修理に優先順位を付けることができます。この機能は、再稼働時間を短縮し、生産歩留まりを改善するのに役立ちます。自動ビニング機能により生産精度が向上し、ステレオ光学アセットにより3D欠陥検出が向上します。IS 2610の高度な光学系は、高解像度イメージングと革新的なデュアルヘッド設計を組み合わせて、自動欠陥検出を改善しました。このモデルは、フォーカシングとクラスタ/タイリングアルゴリズムを組み合わせたバイナリ光学を使用して、ナノメートル精度の欠陥を検出します。深さとコントラストに焦点を当て、画質を向上させ、信頼性の高い欠陥検出を提供します。統合された照明機器は、可変サンプルに最適な照明を保証します。さらに、マクロブロックイメージ補正モジュールは、最小欠陥や欠陥までの画質を補正・向上させ、ステレオ光学システムにより3D欠陥の識別を可能にします。HITACHI IS 2610は、検査プロセスをカスタマイズし、歩留まりを最適化するためのさまざまなソフトウェアツールとオプションをユーザーに提供します。このユニットには、セットアップと分析を簡単に行うための直感的なグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）、資産管理ツール、包括的なレポートとトレンド分析、データエクスポート機能、さらにカスタマイズするためのさまざまなオプション機能が含まれています。この包括的な機能セットにより、ユーザーは自分のニーズに最も適した検査プロセスをカスタマイズし、生産効率を最大限に高めることができます。結論として、IS 2610は、信頼性の高い欠陥検出と生産歩留まり向上のための詳細な高解像度データを提供する高度なマスクおよびウェーハ検査機です。このツールは、イメージング技術、自動欠陥識別ツール、およびソフトウェア機能を組み合わせて、検査プロセスを最適化し、一貫した信頼性の高いパフォーマンスを保証します。