中古 HERMES MICROVISION / HMI SEIEP4 #9284624 を販売中

HERMES MICROVISION/HMI SEIEP4は、半導体業界で使用するために設計されたマスクおよびウェハ検査装置です。大面積の基板を高精度かつ高速に精密かつ同時に検査する画像処理機能を統合した自律型システムです。高度な光学ユニットは、エッジ認識、コントラスト制御、コントラスト強化、カラーセグメンテーション、自動ウェハ検査などの操作が可能です。HMI SEIEP4には、照明またはバックライト条件を変化させるための制御可能な照明器が含まれています。照明器を使用して、平らな物体と湾曲した物体の両方で検査および画像処理を行うことができ、画像解析機能の範囲が広がります。また、最大30フレーム/秒の画像キャプチャレートで、複数の検査を同時に実行し、高速で検査することができます。また、高解像度のCCDカメラを搭載し、高解像度で高精細な画像や光学レンズ、高精度な回転ステージを撮影できます。CCDカメラは、フルRGB、 マルチページTIFF、またはCMOS rawシングル画像に同梱された8ビットから16ビットのグレイスケール画像まで、さまざまなデジタル画像サイズを提供します。カメラの解像度はカスタマイズ可能で、アライメント、検査、画像セグメンテーション、識別などのピクセルワイズ操作に使用できます。HERMES MICROVISION SEIEP4には、画像データを分析するための品質保証ツール、ウェハーマクロプログラミング、パターン認識、コンピュータ支援設計（CAD）など、精度と信頼性を確保するための多くの機能が含まれています。高性能プロセッサは効率的な画像処理を可能にし、内蔵メモリは事前にプログラムされた画像検査と画像データ構造解析を可能にします。さらに、他のHERMES WAFER検査ツールとの高度な統合により、お客様は複数の検査タスクを簡単に管理できます。SEIEP4は、高精度、高速アプリケーション向けに設計された強力なマスクおよびウェーハ検査ツールです。その統合された光学ツール、CCDカメラ、回転ステージ、およびその他の多くの機能は、検査および分析機能の範囲を増加させます。品質保証から自動検査、画像セグメンテーションまで、HERMES MICROVISION/HMI SEIEP4はあらゆる半導体業界に最適です。