中古 HERMES MICROVISION / HMI eScan 320 #9273871 を販売中

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HERMES MICROVISION / HMI eScan 320
販売された
ID: 9273871
ウェーハサイズ: 12"
ヴィンテージ: 2011
E-Beam defect inspection system, 12" With E-beam probe 2011 vintage.
HERMES MICROVISION/HMI eScan 320は、マスクだけでなく半導体ウェーハの欠陥を検査するために使用される最先端のマスク&ウェーハ検査装置です。HMI eScan 320には、大規模で明るい21インチカラーモニターがあり、オペレータはスキャン結果を簡単に確認できます。最大0。001mmの精度で最大30,000件の染料サイトをスキャンできるデジタルイメージングスキャンシステムを搭載しています。スキャンユニットは、6チャンネルのカラーカメラを使用して、スキャンされるオブジェクトのすべての側面からデータをキャプチャします。HERMES MICROVISION eScan 320はまた、データが最も最適な形式でキャプチャされるように設計された独自の「オートフォーカス」機能を備えており、スキャンプロセスの潜在的なエラーを低減します。また、eScan 320には、1ミクロン程度の小さな欠陥を検出できる強力な画像解析機が搭載されており、検査された欠陥の種類、サイズ、位置などの詳細な情報を提供します。このツールは高いスループットレートを持つように設計されており、その結果、大量のマスクやウェーハを単一のスキャンで処理することができます。これにより、ユーザーは複数のスキャンをまとめてバッチすることができ、1回のセッションでウェーハ全体をすばやく検査することができます。また、直感的でユーザーフレンドリーなコントロールパネルを備えているため、モデルの操作が簡単になります。HERMES MICROVISION/HMI eScan 320は、ウェーハやマスクの欠陥を検査しながら、精度と精度を必要とするあらゆる半導体やマイクロエレクトロニクスアプリケーションに最適なソリューションです。強力な画像解析装置、オートフォーカス機能、堅牢な構造の組み合わせにより、HMI eScan 320はあらゆる半導体生産拠点にとって貴重な資産となります。プラントの所有者とオペレーターは、HERMES MICROVISION eScan 320は非常に費用対効果が高く、セットアップとメンテナンスを最小限に抑える必要があるため、魅力的で信頼性の高い検査オプションです。
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