中古 HENNECKE HE-WI-05 #9168043 を販売中

HENNECKE HE-WI-05 Mask and Wafer Inspection Equipmentは、デバイス製造に使用される前に集積回路（IC）マスクおよびウェーハを検査するために使用される自動システムです。このユニットは、高解像度のイメージング、信頼性の高い欠陥の検出、および異なる生産ロット間での再現可能な測定を提供します。特に半導体業界の厳しい要件を満たすように設計されています。HE-WI-05は、ICマスクやウェーハのトポロジーを測定するための散乱計と呼ばれる画像技術を利用したレーザーベースの光学マシンを採用しています。このツールには、検査された部品の高解像度画像をキャプチャするためのデジタルCMOSカメラとレーザーイルミネータが含まれています。画像は高度な画像処理アルゴリズムを使用して処理され、傷、粒子、傷などの表面欠陥を検出します。アセットは、さまざまな解像度と開口部で構成可能であり、小型および微細構造物の検査を可能にします。また、HENNECKE HE-WI-05は、高速電動ズームレンズを使用してカメラの焦点を調整する自動フォーカスコントロールを内蔵しています。これにより、モデルがキャプチャした画像が正確に焦点を合わせることができます。また、対物レンズ表面検査システムを搭載し、特殊形状の散乱計を実現しています。このユニットは、露出したフィーチャーの非接触測定だけでなく、フィーチャーのサイズも提供します。検査HE-WI-05統計データを収集するように設定することもできます。これには、欠陥の数やサイズ、その他の表面特性などの情報が含まれます。これは、生産プロセスに関する包括的な品質保証レポートを提供するために使用することができます。全体として、HENNECKE HE-WI-05 Mask and Wafer Inspection Machineは、ICマスクとウェーハの精密、再現性、信頼性の高い測定を提供する高度なツールです。正確な欠陥検出のための高品質な画像と、品質保証のための統計データを提供します。これにより、半導体産業に欠かせないツールとなります。