中古 HENNECKE He-WI-03 #9071444 を販売中

HENNECKE He-WI-03
ID: 9071444
Wafer inspection system Currently crated and warehoused.
HENNECKE He-WI-03は、光学パターン測定用途向けのマスク&ウェーハ検査装置です。高解像度イメージングセンサーにより、優れた画質が得られ、研究者や技術者はマスク画像を正確に検査し、欠陥位置を評価することができます。このシステムは、単一の顕微鏡、CCDカメラユニット、およびポジショニングマシンを備えたコンパクトな設計を特徴としています。この顕微鏡は、最大64倍の倍率で高解像度の画像をキャプチャし、0。5 mmから3。5 mmのサイズのウェーハに焦点を合わせることができます。この高精度なズームとフォーカス範囲により、ウェーハパターンの詳細な画像を高精度でキャプチャするのに最適です。カメラツールには、高度な充電結合デバイス(CCD)が装備されており、12ビット強化された色深度で最大5メガピクセルの画像をキャプチャできます。また、高度な画像処理アセットを備えており、特定の欠陥の画像を検査し、欠陥位置を正確に決定することができます。このモデルの位置決め装置は、正確なウェーハ画像キャプチャを可能にするだけでなく、顕微鏡でのマスク画像の自動配置もサポートします。これにより、顕微鏡に配置された画像がマスクと正しく整列し、ユーザーエラーを排除し、測定を簡素化することができます。He-WI-03はまた、ユーザーが顧客のマスク画像を内部で生成されたマスクや欠陥画像と比較することができる特別なソフトウェアと統合されています。さらに、このソフトウェアを使用すると、画像内の欠陥位置と分布を可視化し、検査プロセスの精度を高めることができます。このシステムは、正確で信頼性の高いデータを提供し、インラインとオフラインの両方の使用に適しています。HENNECKE He-WI-03は、優れた画像性能とユーザーフレンドリーなソフトウェアにより、ウェーハの欠陥を容易に識別および分析できます。
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