中古 FITO F2000 #9266845 を販売中

FITO F2000は、半導体ウェハーの製造に向けて、イメージキャプチャ、データ解析、欠陥検査を提供する次世代マスクおよびウェハ検査装置です。F2000の高速画像処理、高速、正確、再現性の高い測定機能、および大型パターン認識メモリにより、生産歩留まりを最大化し、歩留まり解析と欠陥検査を正確に実行し、文書化します。この多目的システムは、ダイレクトビューユニットと自動レンズを備えた光学イメージングを使用して、瞬時に画像をキャプチャします。また、高倍率目的とカメラシステムの組み合わせを使用して、個々の欠陥をキャプチャします。さらに、このマシンは、信頼性の高い画像キャプチャを確保するために均一な照明を提供する新しいLED照明底壁を持っています。FITO F2000の強力な画像処理とインテリジェント欠陥検出アルゴリズムにより、多次元欠陥の検査と分析を提供します。ウェーブレット、中央値、エッジ検出、欠陥分類を含む幅広い選択可能なフィルタを備えています。さらに、このツールは、長さや深さなどの3D測定をパターンや欠陥に記録するだけでなく、直径、プロファイル、角度などの寸法を測定することができます。収集されたデータは、ウェーハの欠陥率の分析を提供するレポートを生成するために使用されます。この強力な機能により、お客様はウェーハ製造プロセスに関する貴重な洞察を得ることができます。F2000には、2つのデータインターフェイス（イーサネットとFireWire）と、ユーザーが外部デバイスまたはデータベースにアセットを接続できる専用ソフトウェアが装備されています。これにより、データ転送と分析がはるかに簡単で効率的になります。さらに、このモデルには、拡張プログラムストレージ用の追加メモリに対応するUSBポートもあります。FITO F2000は、簡単なインストールとメンテナンスのために設計されており、操作を簡単にする直感的なタッチスクリーンインターフェイスが付属しています。さらに、その人間工学に基づいたデザインは、最大のユーザーの快適さを保証します。F2000は、ウェーハ製造プロセスを次のレベルに引き上げたいお客様に最適な機器です。堅牢な機能、強力な機能、直感的なデザイン、手頃な価格で、FITO F2000はあなたの完璧なマスクとウェーハ検査ソリューションです。