中古 ESTEK WIS-600B #293595278 を販売中

ESTEK WIS-600B
ID: 293595278
Wafer defect inspection system.
ESTEK WIS-600Bは、半導体産業の生産プロセスを最適化するために設計された最先端のマスク&ウェーハ検査機です。この装置には、デュアルDUV照明、複数の検出チャネル、明るいフィールド画像認識、プログラム可能なスキャン範囲など、さまざまな先進技術が組み込まれています。デュアルDUV照明は、マスクとウェーハの検査ステージの両方に均一な照明環境を提供します。このシステムは、大面積の基板と小さな部品の両方をスキャンすることができ、効率と精度を最大限に高めることができます。さらに、パターン、欠陥、および非均一性を認識できる複数の検出チャネルが付属しています。これに加えて、このユニットの明るいフィールド画像認識機能により、最小の欠陥を識別することができます。これにより、品質管理が強化され、歩留まり率が向上します。さらに、マシンのプログラム可能なスキャン範囲は、生産ニーズに応じてスキャン領域と速度をカスタマイズする能力をユーザーに提供します。ESTEK WIS-600 Bは、低歪み、高感度、低背景ノイズなどの高度な機能も備えています。また、簡単なナビゲーションと分析のための包括的なデータ管理ツールが付属しています。さらに、資産は維持し、最大のモデル寿命を確保するためにアップグレードすることが容易です。性能を最大限に引き出すために、WIS-600Bは高速検出モードを備えており、最速のマスク&ウェーハ検査機の1つです。さらに、操作と制御を簡素化するユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイスが付属しています。これらのすべての機能を組み合わせることで、WIS-600 Bは製造工程において最高の精度と効率を提供するように設計されています。その高度な技術と機能は、市場で最も信頼性の高いマスク&ウェーハ検査機の1つになります。そのため、ダウンタイムを最小限に抑えて最大の生産歩留まりを達成したい人に最適です。
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