中古 ESI / MICROVISION MVT 7080 #9072774 を販売中

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ESI / MICROVISION MVT 7080
販売された
ID: 9072774
Wafer sorter 110V, 50/50Hz, 15A.
ESI/MICROVISION MVT 7080は、高度なビジョンシステムとイメージング技術を使用して表面実装装置(SMD)パッケージの欠陥を検出するマスクおよびウェハ検査装置です。レーザープロフィロメトリー(LP)や3D干渉(3DIF)など、さまざまな画像キャプチャ技術を提供しています。ESI MVT 7080は、最大0。5 x 0。47 mmのボリュームをキャプチャでき、同時に5 μ mまでの色、表面の高さ、形状を測定できます。また、強力な画像処理および処理機能を備えているため、微細な表面欠陥を検出してリアルタイムで監視することができます。このツールには、統合されたハードウェアプラットフォームと5MPカラーカメラを備えた高速画像処理ハードウェアが含まれています。また、高解像度のサンプルイメージングを提供し、リアルタイム表示機能を提供する大型CCDを備えています。このアセットにはさらにダイナミック倍率機能が含まれており、画像の細かいディテールを処理する場合でも正確な測定を保証します。正確な測定を行うために、MICROVISION MVT 7080は特許取得済みのアルゴリズムと調整可能なフォーカスを備えた独自のFocus Integration Model (FIS)を備えています。機器はさらに、強度の異なるレベルで複数のモードを提供しています。このシステムはまた、ユーザーが特定の測定を実行するようにユニットを構成することができ、使いやすくプログラム可能な測定モードを提供します。さらに、MVT 7080には、さまざまな言語をサポートする堅牢なソフトウェアアプリケーションが装備されており、ユーザーは特定の要件を満たすことができます。このソフトウェアアプリケーションは、ユーザーのデータ管理と分析のためのさまざまな機能を提供するため、時間を節約し、人間の介入を削減するのにも役立ちます。この機械は、高精度の結果ゼロクロッシング(ECO)機構を提供し、表面の高さと欠陥を正確に測定するのに役立ちます。このメカニズムは、ウェーハまたはパッケージからキャプチャされた画像からの表面欠陥の数を識別し、測定するのに役立ちます。このツールはまた、自動パッケージ型認識機能と統計解析機能を提供し、検査プロセスの最適化を支援します。全体として、ESI/MICROVISION MVT 7080マスクおよびウェハ検査アセットは、表面実装デバイスの欠陥検出に対する包括的なアプローチを提供します。このモデルは、高度なイメージング機器、強力な画像処理機能、および検査プロセスを支援する包括的な機能を提供します。
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