中古 ESI / MICROVISION MVT 7080 #293607230 を販売中

ESI/MICROVISION MVT 7080は、半導体検査用に設計されたマスクおよびウェハ検査装置です。高度な光学技術とソフトウェア技術を組み合わせ、複雑なマスクやウェーハに高解像度のイメージングを提供します。このシステムは、開いた、短い、分離された、レイアウトの欠陥だけでなく、粒子、汚染物質、およびフォトマスクの傷など、さまざまな欠陥を検出できます。強力な顕微鏡イメージングマシンを使用し、マスクやウェーハの詳細な画像をキャプチャします。この顕微鏡は4Xテレセントリックズームオプティクスを備えており、再現可能な方法で高解像度の画像をキャプチャすることができます。イメージングツールには、マスクまたはウェーハの表面詳細を検査するフィルターと光源も含まれています。画像キャプチャアセットをコンピュータ制御のXYステージに結合し、ピクセルレベルのスキャンを可能にします。検査モデルには、専用の自動欠陥解析ツールが装備されています。この解析ツールは、画像処理アルゴリズムを組み合わせて欠陥を検出および分析することができます。このアルゴリズムは、定義済みのライブラリデータを使用して、欠陥関連の特性を正確に決定します。ソフトウェアはまた、簡単に設定の操作や欠陥関連パラメータの自動計算を可能にするユーザーインターフェイスが装備されています。ESI MVT 7080は、オールインワンマスクおよびウェーハ検査装置として設計されています。それは他のシステムと容易に統合するモジュラー設計を特色にし、速く、容易な取付けを可能にします。このシステムは、オフサイト管理と監視のためのネットワーク接続で遠隔操作することもできます。それは24/7操作のために設計され、質および精密の高度を維持します。全体として、MICROVISION MVT 7080は高度なマスクおよびウェーハ検査ユニットです。強力な光学技術とソフトウェア技術を組み合わせ、複雑な欠陥を検出および分析します。モジュラー設計は取付けおよび統合を容易にし、機械は24/7操作のために設計されています。これにより、このツールは半導体アプリケーションの欠陥を検出および分析するための理想的な選択肢となります。