中古 ESI / MICROVISION MVT 5080 #9088287 を販売中

ESI/MICROVISION MVT 5080は、半導体メーカーをターゲットとした優れた性能を提供するマスク&ウエハ検査装置です。このシステムは、優れた解像度と幅広い検査速度を備えたフルマスク検査に最高のスループットを提供し、最も要求の厳しい要件に適合します。このユニットは、光学照明エンジン、2台のリニアアレイカメラ、オートフォーカスとレーザーアライメント、高度なズーム光学、および高度な制御アルゴリズムを防ぐ降伏損失で構成されています。リニアアレイカメラは、スキャンスポットごとに複数の画像を高解像度でキャプチャすることができ、優れた検査品質を実現します。オートフォーカスとレーザーアライメント機構により、最高のフォーカス設定で検査ステージを素早く簡単にアライメントできます。機械内の高度な光学系は、高速で正確な検査のために20um/sまでのスキャン速度を可能にします。ESI MVT 5080の制御アルゴリズムは、金型配置検証、フィデューシャル認識、エッジの鋭さ異常検出など、効率的な欠陥検出のための幅広い機能を備えています。内蔵のスタックフラットコントロールにより、欠陥画像がフルイメージシリーズ全体で正確にキャプチャされます。さまざまな画像処理フィルタがツール内に組み込まれており、検査環境への適応性が向上しています。タッチスクリーンユーザーインターフェイスは直感的で、迅速な学習曲線を提供し、すべての経験レベルのオペレータが裸体およびウェーハ検査資産を使用できるようにします。さらに、このモデルは完全にカスタマイズ可能で、ユーザーは機器を正確なニーズに素早く簡単にカスタマイズすることができます。MICROVISION MVT 5080は、100nmの精度で欠陥を検出し、最大20um/sの検査速度を実現します。サンプリング速度は毎秒400万点、最大視野は6mmです。さらに、このユニットは偽陽性および偽陰性のエラーを低減し、効率的で正確な欠陥検出と分類を保証するように設計されています。MVT 5080は、優れた検出精度、制御機能、直感的なユーザーインターフェースを提供する、あらゆる半導体製造アプリケーションに最適です。この機械の効率的で信頼性の高い性能により、現代のあらゆる半導体生産ラインに不可欠な検査ツールとなります。