中古 BROWN & SHARPE MicroVal 343 #9140610 を販売中

BROWN&SHARPE MicroVal 343マスク&ウェーハ検査装置は、複雑な半導体部品の精密検査、検証、分析のための包括的なソリューションです。この検査システムは、高度なフォトリソグラフィ技術を使用して、高感度の小さな特徴の正確な2次元および3次元画像を提供します。MicroVal 343ユニットは、最大0。25umの解像度で、さまざまな複雑な形状のマスクとウェハサンプルの両方を検査することができます。この機械の光学イメージングツールは、高解像度のパノラマCCDカメラと精密LED光源で構成されています。これにより、フォトレジストパターン、フィーチャープロファイル、キャビティなど、すべての機能を高精度で測定できます。アセットのソフトウェアは、ユーザーがさまざまな方法で分析できる画像をキャプチャすることを可能にします。例えば、ソフトウェアはパターンを検出して識別することができ、サンプル上の任意の機能を正確に測定することもできます。さらに、エッジ検出、OCR、比較機能などのソフトウェアツールを使用すると、ユーザーはさまざまなウェーハを比較して、構造や機能の不一致を確認することができます。このモデルは、すべてのサンプルが正確かつ安定してテストされることを保証する自動アライメントモードも備えています。また、光学機器と適切に共焦点になるように、サンプル画像のサイズを変更して回転する機能も提供します。さらに、BROWN&SHARPE MicroVal 343システムは、最大200umのサイズの特徴を検出する機能を備えており、複数の光源構成により、反射モードと伝送モードの両方で特徴を調べることができます。全体として、MicroVal 343マスク&ウェーハ検査ユニットは、複雑な半導体コンポーネントを検査、検証、分析するための正確で信頼性の高いツールをお客様に提供します。先進的なフォトリソグラフィ技術を駆使し、高感度の微細な特徴の正確な2次元・3次元画像を提供することで、半導体業界において貴重なサービスを提供しました。