中古 ASM IBE 139H #9150566 を販売中

ASM IBE 139H Mask and Wafer Inspection Equipmentは、半導体デバイスと回路の正確で信頼性の高い測定を提供する高度な自動検査システムです。これは、生産および研究の目的のために使用され、デバイス上の複数の特徴や構造の画像ベースの3D測定を提供します。このユニットは、高解像度ビジョンマシンと補完的なエアベアリングツールを含む2つの強力で高精度な測定ツールを1つのユニットに組み込んで設計されています。高解像度ビデオ資産は、様々な色、微細構造、幾何学的画像の特徴を高速かつ正確に測定するために使用されます。0.36µmの解像度により、1分以内に1万枚の別々の構造画像を取得でき、デバイスの内側と外側の両方の領域を詳細に分析することができます。補完的な空気軸受けモデルは高精度の電気、光学および機械部品を測定するのに空気ろ過技術を利用します。この装置は10ミクロンまで正確にそれらの特徴を測定できます。このシステムは、エアベアリング、ニードルプローブ、フォースプローブなど、さまざまなプロービングシステムをサポートしています。IBE 139Hは、複数のマスク、複数のウェーハ、さまざまな厚さなど、さまざまなマスクおよびウェーハサンプル構成を測定する機能を備えています。これらのサンプルはサイズの0。5mmから20mmまで及ぶことができます。その高度な光学およびプロービングユニットは、構造のさまざまな部分を正確かつ迅速にキャプチャして測定することができます。ASM IBE 139H用のソフトウェアも大きな価値があり、多くの機能があります。マルチファイルのサポート、ワンクリック構造の測定と編集、データ分析と制御ファイル、マスク描画オプションが含まれています。このソフトウェアはまた、正確な測定を保証するために動的レポート、ユーザー定義パラメータ、エラー防止オートメーションも提供します。All-in-all、 IBE 139H Mask and Wafer Inspection Machineは、半導体デバイスや回路上の複数の機能や構造を正確かつ迅速かつ再現可能に測定できる高度で強力な自動検査ツールです。高解像度のイメージング資産と補完的なエアベアリングモデルを備えており、生産および研究目的に適しています。そのユーザーフレンドリーなソフトウェアは、使いやすく、データ分析を正確かつ信頼性の高いものにします。