中古 AMAT / APPLIED MATERIALS WF 736 DUO #9410324 を販売中

AMAT/APPLIED MATERIALS WF 736 DUOは、最大28nmのパターン分解能と2ミクロンの臨界寸法測定で高解像度の結果を得るために設計された包括的なマスクおよびウェハ検査装置です。このシステムは、光学スキャンや直接電子イメージングや分光法などの分析技術を含む高度なパターン処理、測定、イメージング技術に基づいています。このユニットは、正確な測定と結果を維持しながら、ウェーハとマスク全体を迅速に分析できます。AMAT WF 736 DUOは、欠陥検出からデバイス特性評価まで、多くのウェーハおよびマスク検査タスクに適しています。このマシンは、高度なスキャン、イメージング、および測定技術を利用しています。そのダイレクトエレクトロンイメージング技術は、サンプルを分析するための前例のないレベルの詳細を提供し、そのレーザーベクタースキャン技術は、サンプルの迅速かつ正確なマッピングを可能にします。包括的なパッケージで、マスクとウェハサンプルの2次元および3次元検査を行うことができます。電子ビーム画像の登録や補正、リソグラフィによる蒸着測定などの追加機能により、最も要求の厳しい広範なデータセットを取得することができます。また、データ分析プロセスをさらに簡素化する統合ソフトウェアも提供しています。このソフトウェアを使用すると、サンプルをすばやく分析および特性評価しながら、結果をレビューする出力レポートを作成できます。また、ユーザー定義のデータセットを使用してスキャン操作を計画し、自動化することもできます。アプライドマテリアルズWF 736 DUOは直感的なユーザーインターフェイスとリアルタイムオペレータ制御も備えています。ユーザーフレンドリーなコントロールにより、ユーザーはより少ないステップでサンプルと対話することができ、操作の効率が向上します。また、変化の激しいニーズにも対応できる柔軟性があります。そのアップグレード性とプラグインモジュラー機能により、ユーザーは必要に応じて追加の機能とオプションを追加できます。WF 736 DUOはウェーハおよびマスクの点検のための信頼でき、強力で、多目的な装置です。高度な技術とユーザーフレンドリーなインターフェースにより、サンプルを迅速かつ正確に分析し、詳細で高解像度の結果を得ることができます。