中古 AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 4 #9378708 を販売中

AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 4は、半導体業界で使用されるマスクおよびウェーハ検査装置です。マスクやウェーハの欠陥を特定するために使用されるため、チップの性能が向上し、製造業者の歩留まり率が向上します。AMAT UVision 4は、6インチの完全自動化プラットフォームをベースにしており、迅速かつ正確なウェーハ検査を提供します。半導体マスクとウェーハの自動計測機能により、1。5ミクロンまでの詳細な目視検査が可能です。それは欠陥の認識のための最高の対照を提供する調節可能な照明が装備されています。直感的なユーザーインターフェイスを備えたこのシステムは、ユーザーフレンドリーで直感的であるように設計されています。また、欠陥低減のためのカスタマイズされたアルゴリズムの開発もサポートしています。アプライドマテリアルズUVision 4は、高解像度WaferLCI+カメラモジュールと強力なAI対応プロセッサを内蔵しています。これにより、最大100 um/pixelまでの画像解像度を集中力を高めることができます。これにより、正確な欠陥分類と効率的なサンプル分析が可能になります。UVision 4は半導体業界に大きなメリットをもたらします。ウェーハ検査中に解釈可能な画像が生成され、不適切なリソグラフィの露出を特定するのに役立ちますが、誤報はマシンのLUCenterアルゴリズムで識別および抑制されます。さらに、このツールはパターン認識支援欠陥識別を実行し、より高い精度とより少ない誤報を提供します。さらに、AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 4のSmartStationワークフロー最適化機能は、スループットの向上に役立ちます。そのリアルタイム欠陥レビューは、効率的なプロセス監視と制御を提供します。同時に、データのエクスポート機能もWaferTraceソフトウェアを介して提供されます。全体として、AMAT UVision 4は、最新の半導体メーカーに信頼性の高い欠陥検出を提供する高度なマスクおよびウェーハ検査資産です。効率と精度を向上させる強力な機能が搭載されていますが、ユーザーフレンドリーな設計により、あらゆる半導体メーカーにとって魅力的な選択肢となります。