中古 AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 4 #9375217 を販売中

AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 4
ID: 9375217
Brightfield inspection system.
AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 4は、半導体製造業界のニーズに応えるために設計されたマスクおよびウェハ検査装置です。このデバイスは、高速で高解像度のイメージングと自動パターン認識を提供し、マスクやウェーハの欠陥を検出することができます。AMAT UVision 4は、多層厚み(MLT)マッピングとSEMI標準粒子解析を利用しています。MLTマッピング機能により、マスクまたはウェーハの層の断面厚と抵抗率を正確に測定できます。このデータは欠陥検出プロセスを強化するために使用されます。SEMI標準の粒子解析は、重要なマスクおよびウェーハ領域の異物を検出および識別するために、画像の取得および分析をサポートします。この高度な粒子分析システムは、顕微鏡で見えない粒子を分類し、区別する能力を提供します。高効率ピクセルベースの歪み補正機を搭載し、全解像度で光収差を補正します。これにより、オブジェクトが画像に正しく表示されます。このツールはまた、マスクまたはウェーハに検査画像が投影される条件をカスタマイズする機能を提供します。これにより、ユーザーは特定の基準に従って条件を最適化することができます。応用材料UVision 4は製造環境向けに設計されており、堅牢なクロムアルミニウムハウジングを提供します。この設計は、連続的な生産を可能にするために迅速な変更を容易にします。アセットは、すべての検査ツールに簡単にアクセスして制御するための高度なグラフィカルユーザーインターフェイスと統合されています。インターフェイスはまた、アプリケーションテンプレートを保存してリコールする機能を提供し、複数の画像やツールに簡単にセットアップすることができます。このモデルは、自動化されたアプリケーションのためのロボットプラットフォームに統合することもできます。これにより、各オブジェクトに設定が適用された複数のオブジェクトの検査を自動化できます。UVision 4は、マスクやウェーハの欠陥を迅速かつ正確に検出できる信頼性の高い検査装置を必要とする半導体メーカーにとって理想的な選択肢です。高度な機能と堅牢な設計により、AMAT/APPLIED MATERIALTS UVision 4は生産環境に最適です。
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