中古 AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 200 #9257412 を販売中

AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 200は、半導体デバイス製造の品質管理のための正確で信頼性の高い分析を提供するように設計されたマスクおよびウェハ検査装置です。このシステムは、粒子、汚れ、ほこり、破片、傷などの多くの種類の汚染を検出することができます。UVisionには、UV/VISレーザーなどの光源を利用した光学イメージングユニットが搭載されています。これにより、光波長と非光波長の両方で見られる汚染物質を検出する機能が拡張されます。また、このイメージング機能により、機械の検出可能な欠陥の範囲を上面から6ミクロンの深さまで拡張できます。UVisionには専用ソフトウェアが付属しており、ユーザーは画像を迅速かつ簡単に分析およびレビューすることができます。このインターフェイスを通じて、ユーザーは欠陥マップを調査し、画像を拡大して検査対象を詳しく見ることができます。さらに、このソフトウェアにより、自動レビュー操作と効率的なレポートストレージが可能になり、検査間のパターンの追跡と比較が容易になります。検査ツール自体に加えて、AMAT UVision 200は検査プロセスの効率を向上させるための産業用ビジョンソリューションを提供します。これには、正確な検査を保証するための自動アライメントやエッジ検出などの機能が含まれます。自動トレース検査により、サンプル部品の厚さも測定できます。APPLIED MATERIALTS UVision 200の信頼性と精度により、半導体デバイス製造の品質管理に最適なツールです。UVisionは、特殊な光学イメージングアセットと直感的なソフトウェアにより、粒子、汚れ、ほこり、その他の汚染物質を検出する効果的な方法をユーザーに提供します。さらに、モデルのビジョンソリューションは、アライメントされた部品を迅速かつ正確に検査するのに役立ちます。この特徴の組合せはそれを半導体デバイスメーカーのための大きい選択にします。