中古 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision #9204131 を販売中

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVisionは、半導体製造に使用されるマスクおよびウェーハ検査装置です。グローバルウェハレベルで最先端の欠陥検出を提供し、欠陥レビューを自動化します。欠陥検出精度を最大限に高めながら、ウエハ検査を最適化した独自の設計となっています。このシステムは、光学式、熱式、電気式の測定値を組み合わせて、ウェーハ表面の特徴をスキャンして正確に測定します。1ミクロン以下の分解能で欠陥を検出する光学センサーとサーマルセンサーを備えています。さらに、パターンに敏感な欠陥を検出するために最先端のアルゴリズム分析を採用しています。このユニットは、最大50 µmの機能を備えたマスクを検査することができます。AMAT SemVisionマシンには、InfraRed （IR）検査、自動再スキャン、標準またはカスタム設計のマスク回路の自動スキャンなど、複数の画像処理パイプラインがサポートされています。IR検査により、複数の画像フレームを同時に3Dで検査することができます。また、欠陥を特定するためのリアルタイムの自動学習プロセスと高度な分析ツールも提供しています。アセットのユーザーフレンドリーなソフトウェアは、ユーザーのニーズに合わせてカスタマイズできる、直感的なユーザーインターフェイスを提供します。また、ディフェクトマッピング、複数のエラーログ印刷、詳細レポート、後処理ヒストグラムなどの高度な機能も備えています。さらに、APPLIED MATERIALS SemVisionは、欠陥キャプチャツールとプロセス監視ツールの包括的なライブラリを提供しており、ユーザーはマスクとウェーハ製造プロセスの最高の歩留まりと品質を保証できます。最大の効率を確保するために、モデルは絶えず変化するウェーハとマスクの設計に適応することができます。欠陥検出とレビューに対する独自のプロセス指向のアプローチにより、非常に効率的で費用対効果が高くなります。これらはすべて、堅牢なマスクおよびウェーハ検査装置を追加し、信頼性と信頼性の高いツールを提供し、生産の最高品質と歩留まりを保証します。