中古 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G4 #9408877 を販売中
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AMAT （APPLIED MATERIALS） AMAT/APPLIED MATERIALTS SemVision G4は、欠陥検出と信号整合性解析の両方において比類のない性能を提供するように設計された、高度なマスクおよびウェーハ検査装置です。G4は、高度な信号処理技術とイメージング技術を採用し、マスクやウェーハを精密に分析および検査します。このシステムは、マスクとウェーハの破壊的で非破壊的な画像をキャプチャし、同時に、マスクとウェーハの両方の画像幅と画像長のデータをキャプチャします。AMAT SemVision G4は、マスクとウェーハの高解像度ラインバイラインスキャンを提供し、最小から最大の重要な機能まで幅広い欠陥をカバーします。また、広帯域または狭帯域の照明を使用したサンプルのスペクトルイメージングも特徴です。単結晶、多結晶、非結晶材料/デバイスを検出することができます。また、欠陥密度測定および分類機能も提供します。さらに、G4の高度なインラインメトロロジーオートメーション機能により、人手を介さずに半導体プロセス関連の欠陥を迅速にスキャン、測定、特定できます。これは、ダイパッドやはんだバンプなどの小さな機能を備えた構造の検出と寸法解析のためのユーザー高度なイメージング機能を提供します。G4はまた、予測診断を可能にする高度なソフトウェアツールを提供しており、迅速なフォルトローカリゼーションを可能にします。応用材料SemVision G4は、高度なコンピュータ支援欠陥認識（CADR）機能を提供します。高度なアルゴリズムを使用して再現可能な精度で欠陥を検出し、形状、サイズ、色、コントラスト、強度などに応じて欠陥を分類および/または修飾できます。CADRは退屈な手動欠陥ソートの必要性を排除し、潜在的に重要な欠陥を特定します。全体として、SemVision G4は強力で効率的なマスクおよびウェーハ検査機であり、最高水準の精度、速度、信頼性を満たすように設計されています。故障解析、検査、生産テスト、プロセス改善に最適なツールです。
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