中古 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 #9274013 を販売中

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3は、最高の光学性能と画質を提供し、マスクとウェーハの正確な配置とアライメントを可能にするマスク&ウェーハ検査装置です。このシステムは、欠陥検出、オーバーレイ測定、3Dプロファイル測定など、さまざまなアプリケーションに使用できます。AMAT SemVision G3は、半導体業界に優れたイメージングおよび検査機能を提供するように設計されています。高度なイメージング技術と自動アルゴリズムを使用して、正確な欠陥検出、オーバーレイ測定、および3Dプロファイル測定機能を提供します。このユニットは3つの独立したイメージングシステムを使用しており、組み合わせると卓越した性能を発揮します。これらのシステムには、近接可視イメージングマシン（NIS）、電子ビームライティングツール（EBS）、および結合ウェーハおよびマスク検査アセット（WMIS）が含まれます。NISは、ナノメートルサイズの特徴を広い視野で特徴付けるための光学分解能を提供します。また、微小な欠陥や構造を検出して測定する機能も備えています。NISシステムとEBSシステムの組み合わせにより、重要なアライメント測定で可能な限り最高の精度が得られます。WMISは、高度なイメージング技術とアルゴリズムを使用して、正確な欠陥検出とオーバーラップ測定機能を提供する、ウェーハとマスクを組み合わせた検査モデルです。この装置は、2次元（2D）ビデオイメージングと、ウェーハとマスクの両方を正確に分析および測定できる3Dスキャン技術を利用しています。APPLIED MATERIALTS SemVision G3は、自動校正と操作、16ビット分解能イメージング、組み込み計測3Dレーザー共焦点顕微鏡（LCM）、統合ソフトウェア制御測定および分析システムなど、さまざまな機能を備えています。SemVision G3は、迅速かつ正確なマスクおよびウェーハの検査および特性評価に理想的なソリューションであり、半導体の専門家が高品質の製品とサービスを提供することを可能にします。幅広い機能と高度なイメージングおよび解析機能により、あらゆる半導体アプリケーションに最適です。