中古 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 #9261413 を販売中

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3は、マイクロエレクトロニクス部品の製造におけるエラーを低減するために設計されたマスクおよびウェハ検査装置です。このシステムは、高解像度のデジタルイメージング技術と高度なパターン認識ソフトウェアを使用して、マスク、ウェーハ表面などの構造上の欠陥を迅速かつ正確に特定します。AMAT SemVision G3はユーザーにいくつかの利点を提供します。最も重要な利点の1つは、堅牢で効率的な自動認識機能と検査品質分析機能です。このユニットは、0。03ミクロンの表面欠陥を検出することができ、マスク、ウェーハ、およびその他のマイクロエレクトロニクス部品の検査に最適です。さらに、エッジ検出やリニアリティテストなどの複数の測定を効率的かつ自動的に実行することができます。アプライドマテリアルズのユーザーインターフェイスSemVision G3はシンプルで直感的です。このディスプレイには、ズームやパン機能、ウェーハ検査用のプリセットプロファイルの選択、自動データ収集などの高度な制御機能が含まれています。このツールを使用すると、ユーザーは検査プロセスを完全に制御し、迅速に結果を確認し、それに応じて必要な調整を行うことができます。SemVision G3には、マスクおよびウェーハ検査アプリケーションの魅力的なオプションとなるいくつかの追加機能も装備されています。これらの機能には、光学同位体イメージングが含まれ、異なるチャネル間のクロストークの可能性を排除するだけでなく、マイクロエレクトロニクス部品のさまざまな欠陥を検出および分類するための複数の欠陥検査ツールも含まれます。さらに、このアセットは、連続検査実行中にパフォーマンスと再現性を向上させるための高レベルの自動化を提供します。全体として、AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3は非常に信頼性が高く、効率的なマスクおよびウェーハ検査モデルです。高解像度デジタルイメージング、高度なパターン認識ソフトウェア、および追加の自動機能を組み込むことにより、ユーザーは効率的かつ正確に幅広いマイクロエレクトロニクスコンポーネントを検査することができます。これらの理由から、AMAT SemVision G3は、あらゆるマスクおよびウェハ検査要件に最適です。