中古 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 #9072082 を販売中
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販売された
ID: 9072082
ウェーハサイズ: 12"
ヴィンテージ: 2005
Defect review system, 12"
(2) Loadports with FOUP capable (TDK)
RFID Type: Loadports carrier reader
BROOKS Robot
Light source: SE-Gun tip
Resolution: 10 nm
Optical microscope
Automatic defect review
Automatic defect classification
Site inspection
Automatic defect localization
Beam tilt
Operator console
UPS
EPDU
FFU
Tool cover
Isolation block
2005 vintage.
AMAT AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3マスク&ウェーハ検査装置は、マスク、レチクル、ウェーハを検査し、エラーや不適合を検出するために設計された自動システムです。高速なウェハスキャン機能を備え、大規模ウェハ上の欠陥を効率的に検出できます。このマシンは、ハードウェアとソフトウェアをサポートする独自の検査ヘッドに搭載された高速6。25メガピクセルCMOSカメラをベースにしています。また、精密加工部品を使用した高精度の電動ステージを工具に組み込んでおり、イメージングおよび検査プロセス中にマスクとウェーハの正確かつ正確な位置決めと動きを実現しています。このアセットは、1ミクロンまでのサイズの欠陥を検出することができ、直径14インチまでの領域を検査することができます。また、複数のウェーハを同時に検査することができ、マスクまたはウェーハの表面欠陥とトレースエラーの両方を検出することができます。さらに、APPLIED MATERIALS AMAT SemVision G3 Mask&Wafer Inspection Modelは、ボイド、ラインブレイク、欠落した機能、誤差など、さまざまな種類の欠陥を認識することができます。この装置は、画像処理をカスタマイズするために使用できるプログラム可能な画像生成およびキャプチャソフトウェアを備えています。これには、検査設定を調整してアプリケーションの結果を最適化する機能が含まれます。このソフトウェアを使用すると、取得したデータを分析し、詳細なレポートを生成することができます。AMAT/APPLIED MATERIALS APPLIED MATERIALS SemVision G3マスク&ウェーハ検査システムは、さまざまな製造プロセスやアプリケーションのニーズを考慮しながら、正確で正確な検査性能を提供するように設計されています。堅牢な設計とユーザーフレンドリーなソフトウェアにより、欠陥を迅速かつ正確に検出し、効率的で信頼性の高い高品質の生産を可能にします。
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