中古 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite #9287515 を販売中

AMAT/APPLIED MATERIALTS SemVision G3 Liteは、ハイエンドのマイクロエレクトロニクスデバイスの信頼性と効率的な検査を容易にするように設計されたマスクおよびウェハ検査装置です。このシステムは、高解像度準粒子イメージング、光場光学、独自のパターン認識モジュールなどの機能を利用して、優れた欠陥検出およびレポート機能を提供します。AMAT SemVision G3 Liteには、先進的なカラーLED照明が搭載されており、照明サンプルと未照明サンプルのパターン差を正確に測定することができ、より幅広い材料を検査することができます。また、試験片の150nm解像度の画像を表示するシンチレーションスクリーン投影機能を備えており、サブミクロン欠陥の検出に役立つ詳細な画像をユーザーに提供します。機械の自動測定機能は、さまざまなパターン解析技術を使用して形状、サイズ、グレーレベルのフィーチャーを検出し、各フィーチャーの特性を迅速かつ正確に測定することができます。独自の自動測定機能を使用して、欠陥の可能性やパターンの変化を特定し、欠陥の潜在的な原因に関するフィードバックをユーザーに提供することもできます。APPLIED MATERIALTS SemVision G3 Liteには高速イメージングモジュールも装備されており、2。5ギガピクセル/秒のイメージングスループットをユーザーに提供します。このイメージングモジュールを使用すると、最小視野150nmで、最大10個のサンプルから素早く画像を取得できます。さらに、このモジュールはウェーハ全体を1秒未満でイメージングすることができます。また、マスクアライメントやトランジスタイメージングなどの各種解析ツールも提供しており、不具合の正確な特定や分類が可能です。SemVision G3 Liteは、強力な分析機能を備えており、クリティカルな形状、フィーチャーサイズ、グレーレベルの情報など、さまざまな有用なデータをユーザーに提供します。全体として、AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 Liteは、幅広い機能と機能を備えた高度なマスクおよびウェーハ検査資産であり、ハイエンドのマイクロエレクトロニクスチップやその他の複雑なデバイスを検査するための理想的なツールです。高度なイメージング機能、強力な分析機能、高速な画像取得速度を備えたAMAT SemVision G3 Liteは、あらゆるサイズと複雑さのデバイスを検査するための強力で信頼性の高いツールです。