中古 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite #293626936 を販売中

AMAT/APPLIED MATERIALTS SemVision G3 Liteは、生産を合理化し、スループットを向上させるように設計されたライン半導体マスクおよびウェーハ検査装置のトップです。高解像度のデジタルイメージングと高度なデータ解析を組み合わせたG3 Liteは、半導体マスクやウェーハの欠陥や欠陥を迅速に特定できます。G3 Liteのイメージングシステムは、最高品質の基準を満たす完全にカスタマイズ可能です。10 ×から13,500 ×までの様々な倍率レベルを利用しており、より詳細で正確な検査が可能です。フルサイズCCD光学アレイは、検査領域で最大6k x 6k解像度の画像をキャプチャすることができ、非常に小さな欠陥を検出することができます。コンピュータ化された画像操作と高度な画像処理アルゴリズムは、マシンの機能をさらに強化します。最大のスループットと生産性を実現するように設計されたG3 Liteは、スキャン速度を調整できるため、オペレータはアプリケーション要件を満たすためにスキャン速度を調整できます。100ナノメートルと300ナノメートルの両方のイメージングをサポートしているため、オペレータはさまざまな検査とプロセスをすばやく切り替えることができます。さらに、このツールは、ウェーハ生産のすべての主要なレベルを正確に移動、傾斜、回転できる自動ステージを備えています。G3 Liteは包括的な解析ツールを備えており、オペレータはパターン、エッジ、寸法を極めて正確に測定および分析できます。Auto-FocusおよびAuto-Tuneテクノロジーは、精度レベルを維持しながら検査時間を短縮し、資産が潜在的な欠陥を迅速に特定できるようにします。ユーザーフレンドリーなグラフィカルインターフェイスにより、オペレータはモデルの使用方法をすばやく学ぶことができます。この機器には、プロッタ、デジタイザ、レーザープリンタなどの堅牢なレポーティングおよびデータ出力オプションも含まれています。汎用性の高いG3 Liteシステムは、大量生産からラボレベルの研究まで、幅広い用途に適しています。その高性能と高度な機能の組み合わせは、マスクやウェーハの検査操作のための優れた選択肢となります。