中古 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9269339 を販売中

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2マスク&ウェーハ検査装置は、集積回路マスクおよび半導体ウェーハの高度なイメージングおよび検査のためのラインシステムのトップです。この多目的な単位は高性能および正確さのマスク、ウェーハおよびJPEGイメージを点検することができる精度および性能の最高水準に合うように設計されています。AMAT SemVision G2マシンが提供する高度なイメージング機能により、オペレータはさまざまな検査パラメータをドラッグアンドドロップすることができ、デバイスに比類のない使いやすさをもたらします。このツールの主な特徴は、マスクまたはウェーハの設計領域内、または実際のチップ表面上の欠陥を検出することです。APPLIED MATERIALTS SemVision G2は、1インチあたり最大1024ピクセルの画素分解能と、ビアやパーティクルなどのサブピクセルサイズと重要な欠陥を検出できる高度な欠陥認識アルゴリズムを備えています。さらに、このアセットには、オペレータに3Dビューや分割ムービーなどの詳細と機能を提供する顕微鏡画像のライブラリが含まれています。SemVision G2には、自動位相シフトスキャン技術が統合されており、オペレータはマスクの登録と位相精度を迅速かつ正確に検査することができます。カスタマイズ可能な視野、柔軟な照明、革新的な欠陥分類機能に加えて、ユーザーは重要な欠陥領域をすばやく検出して分離することができます。このモデルには、迅速かつ効率的な欠陥レビュー、高度な欠陥追跡、正確なレポート作成、カスタマイズ可能な画像表示を容易にするように設計された一連のソフトウェアパッケージが含まれています。ソフトウェアとAMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2の直感的なユーザーインターフェースを組み合わせることで、経験豊富で経験の浅いオペレータにも簡単に使用できます。AMAT SemVision G2マスク&ウェーハ検査装置は、市場で入手可能なイメージング、検査、および分析の最高水準を提供するように設計されています。高解像度、自動機能認識機能、ユーザーフレンドリーなインターフェースを備えたこのシステムは、半導体メーカーや集積回路設計者にとって理想的な選択肢です。