中古 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9269326 を販売中

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2は、半導体製造に関連するさまざまな用途に適した高精度マスクおよびウェハ検査装置です。この特殊なシステムにより、ユーザーはデバイスとシステムレベルの両方で、マスクとウェーハ上のパターン化されたレイヤーを視覚的に検査することができます。優れた精度と再現性を提供するように設計されており、2ミクロンの解像度まで欠陥を検出することができます。このユニットは、明るいフィールドを組み合わせたエピスコピック/ディアスコピック反射顕微鏡を使用しており、斜めと直射光の両方でサンプルを検査することができます。また、最大1280 x 1024解像度で高解像度の画像をキャプチャすることができる高度な20x/120x光学ツールを使用して、最適化された表示のための急速なLED光源を備えています。さらに、AMAT SemVision G2は1,600万画素のCMOSカメラと、ダイレクトイメージキャプチャとストレージ用のイメージキャプチャカードを備えています。APPLIED MATERIALTS SemVision G2には、自動検査および分析ツールの包括的なスイートも含まれており、欠陥を迅速に特定し、正確な位置を特定し、詳細な分析を行うことができます。このアセットは、統合されたラインスキャンもサポートしており、正確なエッジおよびライン欠陥解析を可能にします。このモデルは、ユーザーの調整なしで最高の画像を取得するために、内蔵のオートフォーカスアルゴリズムでリアルタイムのオートフォーカスが可能です。SemVision G2はまた、エッジ位置やピーク山脈分析などの幅広い測定を提供し、さまざまな生産プロセスに最適です。さらに、この機器はさまざまなI/O機能と複数のネットワーキングオプションを備えており、ユーザーはデバイスをリモートで制御したり、既存のシステムと統合したりすることができます。全体として、AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2は、マスクおよびウェーハ検査アプリケーション向けの信頼性が高く、使いやすいシステムです。このユニットは、優れた画像とデータ品質だけでなく、自動化されたツールと測定機能の範囲を提供します。これにより、迅速かつ正確で再現性の高い検査が可能になり、ユーザーはマスクやウェーハの欠陥や特徴を迅速に特定して分析することができます。