中古 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9227745 を販売中

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2は、高精度で迅速な欠陥検出と特性評価を提供するために設計された強力なマスクおよびウェーハ検査装置です。最新の検査技術を搭載し、生産レベルの半導体部品検査において高精度で迅速かつ効率的な欠陥検出と位置決めを可能にします。AMAT SemVision G2は、最新の画像取得および画像処理技術と統合された収差補正4.5kV走査型電子顕微鏡（SEM）を備えています。複雑な欠陥に対して優れたイメージング性能と解析を提供するように設計されています。4チャンネル信号検出、高感度チルト検出器、振幅コントラスト技術などの高度な検出器を使用して、優れたコントラスト解像度を実現し、優れた画像忠実度、再現性、信頼性を提供します。APPLIED MATERIALTS SemVision G2は、生産ボリュームにおけるウェーハの効率的なスクリーニングと分類を可能にするハイスループットウェーハレビューモードも備えています。SemVision G2には、イメージング機能に加えて、サンプルの自動アライメント、画像回転、傾き検出を迅速に行える3Dオートアライメントマシンが搭載されています。また、トップダウン方向とサイドビュー方向の両方で3D X線分析を実行できます。統合された画像解析アプリケーションを使用すると、欠陥を正確にサイズ化して簡単に分類できます。さらに、このツールはマルチユーザーアクセスで設計されているため、複数のユーザーが同時にアセットを使用できるため、生産性の向上とサイクルタイムの短縮が可能です。AMAT/APPLIED MATERIALTS SemVision G2は、高度なイメージング機能と解析機能を手頃な価格で組み合わせた製品で、半導体部品検査に最適なツールです。統合されたハードウェアおよびソフトウェア技術は、迅速かつ正確な欠陥解析のための優れた画像解像度とコントラストを提供します。3Dオートアライメント、マルチユーザーアクセス、柔軟な画像処理により、半導体業界の厳しい検査要件を満たすように設計されています。