中古 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9190574 を販売中

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2マスクおよびウェハ検査装置は、高精度リソグラフィ検査の業界リーダーであり、優れた画質、精度、速度を提供します。このシステムは、6nm以下を含む最先端のリソグラフィーノードに最適化された統合画像処理および検査ソリューションを提供します。最先端のイメージングユニットにより、お客様は製品開発において最高レベルの品質を保証することができます。このマシンは、フィーチャーサイズとノードごとに専用のイメージングキャリブレーションを使用して、6nmの視覚的なダイ検査で最高の精度を提供します。明るく高解像度の12インチトランスミットライトイメージャとオートフォーカスにより、このツールは鮮明で鮮明な画像を提供し、画像分野全体にわたって信頼性の高いコントラストを提供します。AMAT SemVision G2は、高精度の検査に加えて、特許取得済みの自動欠陥検出アセットを備えたマスクおよびウェーハの欠陥の非破壊検査も提供しています。この欠陥検出モデルは、ラインエンドブリッジ、ピットブリッジ、ライン破損、光学近接欠陥（OPD）検出、粒子および汚染などの欠陥を検出するために使用されます。また、CD測定プローブやFOUPなどのさまざまなデバイスからデータを収集する統合スキャンシステムも提供しています。このユニットは、CDスリットまたはバイナリスリット測定、および収差測定を実行するためにカスタマイズすることもできます。さらに、迅速かつ簡単で正確な検査と測定を可能にすることにより、お客様は開発プロセスで貴重な時間を節約することができます。APPLIED MATERIALS SemVision G2ツールは、柔軟性と生産性の観点から、お客様の要件を満たす幅広い革新的な機能を提供します。このアセットは、ウェーハ寸法を即座に再構成する機能を提供し、新しいロードポートアーキテクチャを備えています。また、ユーザーフレンドリーなGUIインターフェイス、自動ツールの選択、複雑な操作のためのシンプルなナビゲーションを備えた直感的で使いやすいインターフェイスが付属しています。全体として、SemVision G2モデルは、マスクおよびウェーハ検査のリーディングソリューションであり、高精度の精度のための高度なイメージングとキャリブレーションを提供します。統合されたイメージングとスキャンにより、正確な結果が得られ、時間とコストの投資が少なくなり、お客様はプロセスの効率性と生産性が向上します。最高品質の画像と最速の欠陥検出により、最先端のリソグラフィーノードに最適なリソグラフィ性能を提供します。