中古 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 Plus #9374700 を販売中

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2 Plusは、ウェーハやマスクの欠陥を検査および検出する際に最高レベルの精度を確保するために設計されたマスクおよびウェーハ検査装置です。このシステムは、高度なカラートランスファー技術を使用してマスクやウェーハを正確に検査し、欠陥画像をほとんどのカラーサポートプリンタに転送することができます。このユニットは、タンデム、ダークフィールド、ブライトフィールドなどの複数のツールをサポートし、ウェーハやマスクのさまざまな欠陥を正確に検出します。また、半導体加工の増加するダイ・ツー・ダイ要件に対応するため、複数のダイ検査のステッチもサポートしています。また、高度な後処理機能により、故障検出精度も向上しています。このマシンには、マルチゾーンオートフォーカスやオートセンター機能などのカスタムデザインの光学系が含まれており、優れた解像度データを提供します。また、16ビットで毎分最大8枚の画像で倍率を250Xまで上げることができるカスタム設計の画像倍率システムも含まれています。特殊なフィルタリングと画像強化技術を使用して、欠陥分解能を向上させた高コントラスト画像を生成します。AMAT SemVision G2 Plusは、ウェーハやマスクの幅広い欠陥タイプを検出できる強力な画像処理機能を備えています。全自動マスク検査モードにより、リアルタイムで画像を処理し、直感的なユーザーインターフェースにより使いやすくなります。さらに、このツールは、さまざまなマスクタイプのカスタマイズされた分析を提供し、迅速かつ正確な欠陥診断を可能にする高度な欠陥認識モジュールを備えています。また、欠陥計測・解析用のマルチデッキイメージアセットを搭載しています。最大4レベルの欠陥を検出でき、その欠陥操作機能により、開放欠陥、ショート、ブリッジ、はんだボール、ストレスクラックなどの欠陥を検出できます。統合されたオートメーション制御モデルは、手動操作と自動化された操作の両方をサポートします。また、エンジニアリングと品質管理のための高度なソフトウェアスイートも含まれています。さらに、この機器は、他の業界標準システムとの互換性を確保するために、標準TIFFやJPEGなどの複数のファイル形式をサポートしています。最後に、APPLIED MATERIALTS SemVision G2 Plusには、冗長電源や信頼性の高い動作を保証するコンポーネントなどの高度なシステムレベルの信頼性機能が含まれています。また、顧客サポートパッケージが含まれており、顧客にオンラインおよび電話サポートを提供します。