中古 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision CX #9249577 を販売中

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision CXは、優れたパターン欠陥検査速度、精度、信頼性を提供するように設計された最先端のマスクおよびウェハ検査装置です。先進的な照明システム、12メガピクセルのCCDセンサー、強力な組込みプロセッサにより、優れたウェーハおよびマスク検査を高感度で提供します。このマシンは、高度なウェーハ欠陥解析、重要な特徴解析、欠陥分類およびトレンドを提供し、1時間あたり最大50ウェーハのスループットを提供します。高解像度イメージングおよび埋め込み検査アルゴリズム、自動バックグラウンドフィーチャー認識、全場欠陥解析、マクロおよびマイクロモジュール検査、および関連データを迅速かつ簡単に選択した検査画像の手動レビューなどが特徴です。AMAT SemVision CXは、絶対的なイメージングと欠陥検出のためのデュアルレーザー設計を使用して、フォーカスの均一な深さを確保し、精度と精度を向上させます。デュアルレーザー設計により、検査プロセスの感度、信頼性、精度が向上します。高度なオブジェクト/エッジ認識技術を使用して、コントラストの悪さ、高ダイナミックレンジ、さまざまな欠陥サイズなどの困難な状態でも、欠陥を正確に検出および識別します。さらに、このツールは自動化されたダイレベルスケーリングを提供し、画像を正確かつ自動的にキャプチャできます。強力なイメージプロセッサを使用することで、高解像度の画像を素早く処理し、パターン認識を行うことができます。APPLIED MATERIALTS SEM VISION CXモデルは、イメージングチップ内で精密な微粒欠陥局所検査機能を提供し、高精度の測定と欠陥マッピングを可能にします。また、デスクトップの相互作用の必要性を排除し、強化された柔軟性と利便性を提供するワイヤレスデータ伝送技術を提供しています。結論として、SEM VISION CXは高度なウェーハおよびマスク検査装置であり、優れた感度、精度、信頼性を提供します。このシステムは、高速検査、正確な欠陥検出機能、最先端の技術を備えており、最新の半導体製造ラインに最適です。