中古 AMAT / APPLIED MATERIALS / ORBOT WF 736 XS #293620183 を販売中

AMAT/APPLIED MATERIALS/ORBOT WF 736 XSは、最も要求の厳しい半導体アプリケーション向けに設計された最先端のマスクおよびウェーハ検査装置です。半導体製造の多様性に対応するため、0。36ミクロン分解能の光学ユニットと高速ウェーハ検査端子を備えています。AMAT WF 736 XSは、高度な軸制御技術を使用して、解像度レベルの配列を維持しながら、最大21個のオブジェクトを同時にスキャンできます。また、検査機は用途に応じて最大8x8mmまたは4x4mmの画像サイズがあります。光学ツールは、ライブプレビューディスプレイのオプションで、顧客の要求に応じてさらにカスタマイズすることができます。ORBOT WF 736XSは、Die 2 Die、 Die 2 Wafer、 Wafer 2、 Camera 2 Waferスキャンのオプションを備えた二軸ステージも備えており、ユーザーは特定のアプリケーションに適応できます。さらに、OptiFlex Intelligent Scanning Softwareは、従来の技術と比較して関連するすべての欠陥を高精度に分析することができ、検査結果の信頼性が向上します。AMAT/APPLIED MATERIALS/ORBOT WF 736XSは、複数の入出力国に対応する機能を構築しており、そのプロセスインターフェイスは、貴重な顧客ツール、ソフトウェア、プロセス間のシームレスな操作を作成するように設計されています。また、直感的なユーザーインターフェイスを備えており、顧客のニーズを満たすためにカスタマイズ可能な操作のための検査パラメータに迅速かつ簡単にアクセスできます。さらに、APPLIED MATERIALS WF 736 XSには、フィードバック制御を使用して解像度とスキャン速度を制御する高速自己学習プロセス制御アセットが装備されています。これにより、パラメータをすばやく最適化し、検出機能を向上させることができます。さらに、オプションの高速ウェーハオートローダーと拡張ダイナミックレンジにより、モデルの性能をさらに向上させることができます。AMAT WF 736XSは、高品質の光学系、高度な画像処理、リアルタイム性能を組み合わせて、業界をリードする機能を提供します。高速かつ高解像度で、信頼性の高い欠陥検出と既存の顧客の品質管理システムへの容易な統合により、品質保証と製品検証に最適です。