中古 AMAT / APPLIED MATERIALS / ORBOT WF-736 XS DUO #293617607 を販売中

ID: 293617607
ヴィンテージ: 2001
Patterned wafer inspection system 2001 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS/ORBOT WF-736 XS DUOは、優れた性能と直感的な操作を提供するように設計されたマスクおよびウェーハ検査装置です。このシステムは、自動化されたウェーハアライメント、高解像度の画像キャプチャと解析、自動欠陥の識別と分類、単一の視野内でウェーハ全体を検査する機能など、さまざまな高度な機能を提供します。AMAT WF-736 XS DUOには、光学モードと電子ビームイメージングモードの両方を利用して、さまざまな基板タイプと機能に最適化されたデータキャプチャを提供する新しいデュアルビーム画像取得モジュールが装備されています。このユニットは、120Mpixelまでの明るいフィールドと暗いフィールド画像を作成するための高解像度のフルフィールドデジタルラインスキャナと統合されています。さらに、3Dプロファイルによる欠陥のインテリジェント認識、正確な特徴検出、自動欠陥分類など、さまざまな自動化機能を提供しています。このツールは、最新の画像処理および画像処理技術を搭載しています。これは、高度な画像フィルタリングアルゴリズムと欠陥を分類、測定、分類する統計分析を提供する統合された画像処理および分析資産を組み込んでいます。このモデルには、複雑な構造やレイアウトの小さな欠陥を検出するために使用できる高コントラスト画像を提供するデジタルブライトフィールドイメージング装置も装備されています。ORBOT WF-736 XS DUOには、高度な制御ソフトウェアが搭載されています。これにより、ウェーハへのツールの適用を制御し、ユーザーのニーズに応じてイメージングパラメータを簡単にカスタマイズできます。さらに、ウェーハ表面のダイパターンのパラメータを自動的に検出して測定する高度な機能認識ユニットを搭載しています。WF-736 XS DUOは、要求の厳しい半導体業界において、マスクおよびウェーハ検査のための効率的で信頼性の高いソリューションを提供します。強力なイメージング技術と直感的な操作を組み合わせたこのマシンは、0。1um〜2umのさまざまな重要な欠陥を検出することができます。手作業による検査に伴う時間とコストを大幅に削減し、重要な生産環境での効率的なプロセスフローを実現します。
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