中古 AMAT / APPLIED MATERIALS / ORBOT WF 720 #9391938 を販売中

AMAT/APPLIED MATERIALS/ORBOT WF 720は、半導体製造およびマイクロエレクトロニクス部品開発に最適化された高性能マスク&ウェハ検査装置です。このシステムは、複雑な回路の品質保証だけでなく、グラフィックスの広い範囲を確保するように設計されています。このユニットは、レーザー干渉計や色収差などの高度なイメージングおよび解析技術を通じて、市場の他のシステムよりも優れた欠陥検出性能と高いスループット率を提供します。AMAT WF 720には高解像度カメラと照明を搭載しており、マスクやウエハの光学検査を高精度に行うことができます。このマシンには、表面トポロジ検出用のレーザー干渉計と、フィーチャー形状の微妙な違いを検出するための内蔵の色収差テクノロジーも含まれています。さらに、このツールは、最高品質の画像を確保するために、オンボードの3D表面再構築を提供します。ORBOT WF 720はグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）を介して制御され、検査プロセスの管理とナビゲーションが容易になります。この資産には、さまざまな分析およびフィードバックツール、およびリモートアクセスと監視のためのWebベースのインターフェイスも含まれています。このモニタリングにより、リアルタイムのデータ収集が可能になり、製品全体の品質を追跡しやすくなります。APPLIED MATERIALTS WF 720は、統合ビジョンモデル、幅広いセンシング機能、および高速欠陥検査を備えているため、複雑な回路に最適な検査ソリューションです。50ナノメートルの解像度で、1時間あたり最大500個のウェーハをスキャンすることができ、より迅速な欠陥検出と精度の向上を可能にします。さらに、この装置はSEMVision Inspection Control Manager （SICM）ソフトウェアと完全に統合されているため、半導体生産プロセスを容易に監視および追跡できます。WF 720は、厳しい生産期限を守りながら、高品質の規格を維持する必要がある半導体メーカーやマイクロエレクトロニクス部品開発者にとって理想的なソリューションです。このシステムは、高度なイメージングと分析機能を備えており、速度、精度、直感的なユーザーインターフェイスを組み合わせており、潜在的な欠陥をすばやく検出して対処することができます。