中古 AMAT / APPLIED MATERIALS 0020-1412 #9361620 を販売中

AMAT/APPLIED MATERIALS 0020-1412は、半導体フォトマスクおよびウェーハの欠陥を迅速かつ正確に特定するために設計された高度なマスクおよびウェーハ検査装置です。このシステムには、高解像度の光学イメージングと高度な自動画像解析ソフトウェアが組み込まれており、欠陥を検出して特徴付けることができます。1時間に最大30個のウエハ検査が可能で、1ミクロン程度の欠陥を検出することができます。ユニットは、光源、光学検査ヘッド、マスクまたはウェハステージ、画像解析ソフトウェアの4つのコンポーネントで構成されています。光源は異なった点検条件のために調節可能である拡散させた照明を出します。光学ヘッドは、長時間動作距離顕微鏡、高解像度カメラ、および非常に広い視野と高倍率機能を可能にするレンズマシンで構成されています。マスクまたはウェハステージは、精密な電動XYスキャンツールで設計されており、サンプルの非常に正確で高解像度のスキャンを可能にします。最後に、画像解析ソフトウェアは欠陥検出と特性評価アルゴリズムで構成され、欠陥を検出し分類するようにプログラムされています。このソフトウェアは、画像を分析し、それが見つけたあらゆる欠陥の詳細なレポートを与えることができます。また、定量分析、欠陥位置マッピング、デュアルインデックス、コンピューティング機能サイズなど、複数の分析タスクを実行できます。このアセットには、モデルパラメータと設定を簡単に制御できるように設計されたグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）も付属しています。GUIを使用すると、ユーザーは機器によって取得されたデータと画像を確認することもできます。AMAT 0020-1412は、高解像度イメージング、精密な電動スキャン、および高度なソフトウェアアルゴリズムを組み合わせた強力で高度なマスクおよびウェーハ検査システムで、半導体写真とウェーハの欠陥を迅速かつ正確に検出します。ユニットは使いやすく、生産歩留まりを改善し、コストを削減するのに役立ちます。