中古 ALLTEQ LFI 3000 #9028592 を販売中

ALLTEQ LFI 3000は、高解像度のリアルタイム欠陥検査と分析を提供するように設計された次世代のマスクおよびウェーハ検査装置です。このシステムは最大のパフォーマンスに最適化されており、ユーザーに最大のスループットと迅速な欠陥検出を提供します。最高の解像度と精度を確保するために、2次元イメージングCMOSセンサー、高性能の4-Laser源オブジェクト検出機、および最適化された光学ツールが装備されています。これにより、ユーザーは簡単で正確なウェーハとマスク機能の分析が可能になります。LFI 3000は、最大1。5 cm²の広いエリアスキャンを備えており、最大解像度16 cm² 128x512の解像度で最大6 µmの領域をカバーできます。このアセットには、高密度パターン測定、堅牢なパターン指向計算、高精度の欠陥解析のための高速スイッチング速度、および粒子や傷などの幅広い欠陥検出も含まれます。モデルは簡単にカスタマイズし、統合することができ、簡単なインストールとセットアップを可能にします。また、簡単なナビゲーションとユーザーエクスペリエンスのための直感的なソフトウェアも含まれています。直感的なGUIにより、欠陥のない結果を迅速に検査および分析できます。さらに、この装置は、データストレージ、高度な分析およびデータエクスポート機能、自動分析後の欠陥検査システム、欠陥パターンの追跡ユニットなど、多数の統合機能を提供しています。これにより、ユーザーは欠陥を分析し、問題領域を迅速に分離し、修理または欠陥低減のための信頼性の高いソリューションを提供することができます。ALLTEQ LFI 3000は、ウェーハおよびマスク機能の検査とデバッグ、欠陥検出の最適化、正確な欠陥識別とソリューションの効率化を実現する強力なツールです。この機械は高度のマスクおよびウェーハの点検機能を捜すユーザーのための完全な解決です。