中古 AEM-EVERTECH TTR-300I #9234973 を販売中

AEM-EVERTECH TTR-300Iは、マイクロエレクトロニクス回路のエッチング、リソグラフィー、パターニングの欠陥や不規則性をチェックするために使用される高度なマスクおよびウェハ検査装置です。このシステムは、チップ全体をスキャンするのにかかる時間のほんの一部で高精度の検査を行うことができるため、ユーザーは高価な問題になる前に生産上の欠陥を検出して定量化することができます。TTR-300Iは、ハードウェアとソフトウェアベースの自動検査ツールを組み合わせることで、品質管理エンジニアやその他の人員が重要な生産段階における欠陥を簡単かつ迅速に特定し、定量化することができます。このユニットは、マスクやウェハの表面からの粒子や欠陥を正確に検出することができる最先端の1024x1024ピクセルレーザー検出とフォーカシングマシンを装備しています。さらに、光学ズームとスポット倍率の自動化により、ユーザーは拡大精度で欠陥を調査することができます。AEM-EVERTECH TTR-300Iには、特定のユーザーの仕様に合わせたカスタムソフトウェアパッケージがあり、異なる生産タスクに合わせてカスタマイズできます。このソフトウェアを使用すると、ユーザーは資産の構成と監視、レイアウト基準の選択、検査モデルのパフォーマンスの追跡を行うことができます。このソフトウェアには、包括的な欠陥報告のための作り付けの統計分析機能もあります。TTR-300Iは、単一のプラットフォームで幅広いサンプルサイズと構成に対応できるように設計されています。統合された入力ステージは、最適な表示のための高コントラスト画像を生成し、ユーザーが選択できる幅広い視野（FOV）を提供します。この装置のカスタムマスクとウェーハホルダーは、検査プロセス中に高いレベルのサンプル安定性を提供しますが、コンピューター制御のx-yステージでは、標準ではない検査中にサンプルの移動や表示を可能にします。AEM-EVERTECH TTR-300Iに内蔵されたフィルタを使用すると、1つのサンプルタイプまたはもう1つを選択できます。また、カスタム画像処理ツールを使用すると、画像の補正や調整を行うことができます。TTR-300Iは、今日入手可能な最高のマスクおよびウェーハ検査システムの1つです。AEM-EVERTECH TTR-300Iは、最新のハードウェアおよびソフトウェアのカスタマイズ可能な機能を備えており、生産上の欠陥を時間効率的に検出して定量化することができます。この検査システムは、生産の全体的な品質に関する豊富な知識を提供することができ、多くの産業が時間、お金、リソースを節約するのを助けることができます。