中古 ACCRETECH / TSK Win-Win 50 #9281217 を販売中

ACCRETECH/TSK Win-Win 50は、半導体製造に使用されるマスク&ウエハ検査装置で、広い視野で高解像度の基板やマスクの検査が可能です。このシステムは、ダイレクトイメージング投影ユニットと光学的に変更されたワッフル型の対物レンズを使用して、歪みのない標本の明確な、または「透明な」画像を確保します。TSK Win-Win 50は、微細な線幅、線縁、回路形状、印刷層パターンの形状、表面欠陥など、さまざまなパターン特性を検出できます。さらに、ハイスループットをサポートする高度な高速スキャニングツールを搭載しています。最大24。6 x 17。9mmのスキャン領域で、さまざまな基板やマスクを素早く取得できます。また、高解像度の画像処理アセットを備えており、優れた画質で微細な処理欠陥を検出します。ACCRETECH WIN 50のソフトウェアは、自動画像解析アルゴリズムでパターン特性、欠陥、欠陥の位置情報の正確な評価をサポートします。さらに、ガラス、シリコン、金属、結晶などの様々な基板材料の手動操作と自動操作の両方をサポートすることができます。WIN WIN 50は、表面検査、LCDマスク関連欠陥検査、パターン検査、ワイヤーボードパターン検査など、半導体製造の幅広い用途に最適です。また、直感的なユーザーインターフェイスを備えており、使いやすい操作とメンテナンス機能により、効率的なマスク&ウェーハ検査が可能です。要約すると、ACCRETECH Win-Win 50は革新的で信頼性の高いマスク&ウェーハ検査装置です。ダイレクトイメージングプロジェクションシステムと高度な高速スキャン機能により、さまざまな基材に優れた画質と性能を提供します。さらに、汎用性の高いソフトウェアと直感的なユーザーインターフェースにより、幅広い半導体生産アプリケーションに適しています。