中古 ACCRETECH / TSK Win-Win 50 #9202658 を販売中

ACCRETECH/TSK Win-Win 50マスクおよびウェハ検査装置は、半導体製造プロセスで使用される不可欠なツールです。このシステムは、迅速で正確で信頼性の高いマスクおよびウェーハ検査を提供するように設計されています。さらに、モジュラー設計によりカスタマイズが容易になり、幅広い用途に最適です。TSK Win-Win 50は、ダイマスクとフォトマスクの両方のパターンを検査するために使用できます。TSK両面光学ユニットを採用し、ウェハ上部と下部の両方から測定し、片面光学系よりも高い精度を提供します。その高倍率と速度は、顕微鏡や地形検査にも適しています。高速画像処理、パターン認識技術、特別に開発された検索エンジンを搭載した高度な画像取得・解析ツールを搭載しています。その高度な光学系はまた、高いスループットと精度を保証します。イメージング資産も完全に自動化されているため、効率的かつ再現性の高い検査が可能です。ACCRETECH WIN 50は、組み込みの分類ツールで欠陥分類も可能です。実際の欠陥と誤検出を区別することができ、プロセス最適化のための効果的なツールとなります。さらに、直感的なソフトウェアパッケージにより、簡単なトレーニングとモデルのセットアップが可能です。また、多くの標準データフォーマットをサポートしているため、既存のワークフローに簡単に統合できます。全体として、ACCRETECH/TSK WIN WIN 50システムは、あらゆる半導体生産ラインに最適です。高速、高精度、幅広いアプリケーションにより、マスクやウェーハの検査に信頼性と費用対効果の高い選択肢となります。そのモジュラー設計はまた容易なカスタム化および統合を可能にし、それをあらゆる生産の設定の多目的で、適用範囲が広い選択にします。