中古 ACCRETECH / TSK Win-Win 50-1600 #9353792 を販売中

ACCRETECH / TSK Win-Win 50-1600
ID: 9353792
ウェーハサイズ: 12"
ヴィンテージ: 2005
Bright field inspection system, 12" 2005 vintage.
ACCRETECH/TSK Win-Win 50-1600は、フォトマスク、ウェーハ、その他の基板上のエッチングパターンの自動検査用に設計された「マスク&ウェーハ検査」装置です。さまざまな先端光学技術で構成され、高解像度、欠陥のないイメージングと評価を可能にします。TSK Win-Win 50-1600は、4チャンネルのCCDカメラを使用して、幅広い解像度の画像をキャプチャします。レンズシステムは、0。3ミクロンの解像度と6x調整可能なズームを備えています。さらに、赤外線(IR)レーザーと高性能光学は、クラス最高のイメージング機能を提供します。レーザースキャニングウェーハアシストツール(LASWAF);任意マスクのA側面かB側面の欠陥を検出し、識別できる特性のマスクの認識の単位;アライメントユニットとデータ処理ツールを内蔵しています。このマシンは、自動化された正確で再現性のある欠陥検査に適しており、高速な結果データ出力とパターンデータの信頼性の高い分類を提供します。ユーザーフレンドリーなインターフェースにより、セットアッププロセスが容易になり、複雑なパターンでもハイエンドのスキャンと検出が可能です。ACCRETECH Win-Win 50-1600は、業界をリードする画像処理およびソフトウェアプラットフォームであるWIN-Verityを含むさまざまなソフトウェアパッケージを備えているため、高度にカスタマイズ可能です。VertexP2ソフトウェア、リアルタイムの可視化および分析パッケージ;そして他の高度用具。さらに、DIP、 CMAPI、およびECD計算機能を内蔵しているため、欠陥解析と計測アプリケーションの両方に使用できます。全体として、Win-Win 50-1600は、半導体業界の絶えず変化するニーズを満たすように設計された印象的なマスク&ウェーハ検査資産です。高度な光学系、IRレーザー、さまざまなソフトウェアパッケージと組み合わせた高解像度イメージングにより、幅広いパターンから欠陥を検出して識別することができ、品質管理作業にとって貴重なツールとなります。
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