中古 JOHANNO OTTO VKS 75B Control #9171574 を販売中

JOHANNO OTTO VKS 75B Controlは、複雑なサンプル構造や特性を分析するために研究室で使用される走査型電子顕微鏡（SEM）およびサンプル操作装置です。このシステムには、SEMサンプルホルダーとサンプル操作サブシステムなど、さまざまなアクセサリが付属しています。エネルギー分散X線検出器（EDX）；インレンズの二次電子探知器；イメージング電子検出器；そして可変的な圧力/熱段階。SEMサンプルホルダーは、サンプル処理のための安全なプラットフォームを提供し、正確な位置決め、サンプル安定性の向上、スキャン電子顕微鏡でのリアルタイム画像を可能にします。サンプル操作サブシステムは、スキャン電子顕微鏡ステージの正確なモーター制御を提供し、サンプルを上下に移動させ、制御されたスキャン操作を実行します。また、低振動モーター設計により、詳細な画像をキャプチャする機能も強化されています。エネルギー分散型X線（EDX）検出器は、その元素組成を測定するためにサンプルの定性的かつ定量的なX線分析を行います。この検出器はまた、標準的なX線検出技術の広い範囲と互換性があり、60〜120 eVの選択可能なエネルギー分解能を持っています。これにより、微量元素の定量化およびマッピングアプリケーションに適しています。インレンズ二次電子検出器（SED）は、サンプルの正確な画像処理を可能にする高分解能検出器です。この検出器は、二次電子、地形、熱放射など、幅広い表面信号を提供します。イメージング電子検出器は、デジタル画像に高い信号対ノイズ比と電子数を提供する強力なツールであり、異なる倍率でサンプルの詳細なイメージングを可能にします。可変的な圧力/熱段階はユーザーが異なったガスおよび温度の環境を模倣することを可能にします。この段階は-50°Cと50°Cの間の温度調整を提供し、10 torrまで可変的な圧力制御を提供します。これにより、さまざまなシミュレーション環境でサンプルの特性をより深く理解することができます。VKS 75B Controlマシンは、研究室でサンプルを分析するための汎用性とユーザーフレンドリーな機器です。その機能と幅広いアクセサリーにより、研究者は複雑なサンプル構造を生成および分析し、その元素組成を正確に測定し、さまざまなシミュレートされた環境でその特性についてより多くの洞察を得ることができます。