中古 EDAX / AMETEK Inspect S #9301224 を販売中

ID: 9301224
ヴィンテージ: 2007
Detector microanalysis system PN: PV77-60680-ME Port: Back left upper Active area: 10 mm² Amplifier model: 204 B+ Window type: 3.3 2007 vintage.
EDAX/AMETEK Inspect Sは、ラボで材料分析に使用される包括的な機器です。このシステムには、材料分析におけるさまざまな課題に対処するための高度なイメージングおよび精密分析機能が含まれています。これは、元素マッピング、表面地形、化学的および構造的特性評価、および飛行時間(TOF)スパッタ深さプロファイリングなど、幅広い分析機能を提供します。このユニットは、軽元素材と重元素材の両方の分析をサポートするように設計されています。EDAX Inspect Sは、走査型電子顕微鏡(SEM)イメージング、エネルギー分散分光法(EDS)、電子後方散乱回折(EBSD)解析、電子プローブマイクロ分析(EPMA)など、幅広いイメージング、特性評価、解析機能を備えています。EDS検出器により、炭素や窒素などの軽元素の検出も可能で、多くの応用分野の材料分析に最適です。このマシンには、分析データの効率的な保存、管理、共有を可能にする高度なデータ管理ツールが含まれています。また、ユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイス(GUI)により、分析プロセスを簡単に制御および監視できます。解析機能用の専用ソフトウェアを含む強力なソフトウェアスイートも含まれています。このモデルには、分析機能に加えて、サンプルスループットを向上させるために設計された自動サンプルローディングおよびアンロード装置も含まれています。自動ロードおよびアンロード・システムは、サンプルの準備プロセスを簡素化し、ユーザーのインタラクションを最小限に抑えるのに役立ちます。このユニットは、高精度で正確な測定を可能にするように設計されており、二次または後方散乱イメージングモードでは3ナノメートルまでの分解能を備えています。また、高温EBSDモードを備えており、高温材料の微細構造の研究に使用することができます。このツールはまた、完全に自動化された粒子分析機能を備えており、粒子の自動検出、サイズ設定、識別を可能にします。セラミックス、ミネラル、プラスチックなど様々な素材に使用できます。最後に、このアセットには自己診断機能が装備されており、モデルは継続的に動作を監視し、ユーザーにエラーや異常を警告することができます。この自己診断機能を使用すると、ユーザーは発生した問題にすばやく対処できます。全体として、AMETEK Inspect Sは、ラボ材料分析のための包括的な機器であり、迅速な問題解決のための幅広いイメージング、特性評価および分析機能、および自己診断機能を提供します。様々な材料分析アプリケーションのラボでの使用に最適です。
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