中古 THERMO FISHER SCIENTIFIC / FEI Helios NanoLab 1200 Plus #293826965 を販売中

THERMO FISHER SCIENTIAL/FEI Helios NanoLab 1200 Plusは、ナノテクノロジー分野の高解像度イメージングおよび精密加工アプリケーション向けに特別に設計された最先端のイオンフライス加工装置です。最先端の技術を組み合わせ、優れた性能と汎用性を提供し、幅広い研究開発ニーズに対応します。NanoLab 1200 Plusの中心にはイオンミリング機能があり、集束イオンビームを使用してサンプル表面から材料を正確に除去できます。このシステムには、サブナノメートル分解能でイオンビームを生成できる高エネルギーイオン源が搭載されており、ナノスケール機能の超精密なフライス加工とパターニングが可能です。この機能は、透過電子顕微鏡（TEM）のサンプル調製、ナノ構造化、デバイスのプロトタイピング、材料改質などの用途に不可欠です。NanoLab 1200 Plusのイオンミリングプロセスは、直感的なユーザーインターフェイスを介して制御および監視され、ミリングパラメータ、ビーム位置、サンプル表面トポグラフィに関するリアルタイムのフィードバックを提供します。この高度な制御ユニットにより、ユーザーは高い再現性を実現し、各アプリケーションの特定の要件を満たすためにフライス加工プロセスを微調整することができます。さらに、このマシンには高度なイメージング機能が搭載されており、フライス加工プロセスを現場で監視し、イオンビームの正確な制御とアライメントを保証します。NanoLab 1200 Plusは、イオンミリング機能に加えて、幅広いサンプルサイズと種類をサポートする多彩なサンプルハンドリングツールを備えています。このアセットは、直径150 mm、高さ25 mmまでのサンプルに対応でき、さまざまな研究分野のさまざまなアプリケーションに適しています。サンプルステージには複数の自由度を備えており、イオンビームに対するサンプルの正確な位置決めとアライメントが可能です。この柔軟性は、サンプル表面全体にわたって正確で均一なフライス加工を実現するために不可欠です。さらに、NanoLab 1200 Plusは、イオンミリング前後のサンプルの包括的な特性評価を可能にする、さまざまな高度なイメージングおよび分析ツールを備えています。ナノスケール分解能で表面形態を撮影するための高分解能走査型電子顕微鏡（SEM）や、化学組成解析用のエネルギー分散型X線分光装置（EDS）を搭載しています。これらの機能により、サンプル構造、組成、形態の詳細な分析が可能になり、材料特性に対するイオンミリングの影響について貴重な洞察を得ることができます。全体として、FEI Helios NanoLab 1200 Plusは、幅広いナノテクノロジー用途において比類のない性能と柔軟性を提供する最先端のイオンミリングシステムです。NanoLab 1200 Plusは、高度な機能、直感的なユーザーインターフェース、包括的な分析ツールを備え、材料科学、ナノテクノロジー、半導体デバイス製造などの分野で活躍する研究者やエンジニアに不可欠なツールです。