中古 THERMO FISHER SCIENTIFIC / FEI ExSolve 2 WTP EFEM #9233570 を販売中

ID: 9233570
ヴィンテージ: 2017
Focused Ion Beam (FIB) system, 12" Process: PFA CIM: E84, SECS/GEM, GEM 300 Handler system: Standard automation Hardware configuration: SMIF System: (2) Load ports FOUP, 12" Options: Dark field optical microscope Pre-installation kit: ExSolve EFEM Kit, 12" 2017 vintage.
THERMO FISHER SCIENTIAL/FEI ExSolve 2 WTP EFEMは、半導体や産業、医療、科学研究用途などの極めて薄い材料に非常に精密な表面特性を作り出すために設計されたイオンミリング装置です。このシステムは、高エネルギー焦点イオンビームを備えており、ナノスケールのレベルで非常に細かい特徴を作り出すことができます。FEI ExSolve 2 WTP EFEMには、インタラクティブな仮想環境(VE)と直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスが含まれており、正確なプロセス制御が可能です。このイオンミリングユニットは、非常に薄い材料に仕上げられたさまざまな表面を作成するために、エッチングによってパターンを転送するように特別に設計されています。その設計はまた、異なる方向にサーフェスを加工することによって複雑な断面化を可能にします。THERMO FISHER SCIENTIFIC ExSolve 2 WTP EFEMは、薄い材料の加工とは別に、成膜やイメージング作業にも使用できます。これには、薄膜の沈着や表面形態のイメージングが含まれます。ExSolve 2 WTP EFEMには、サンプルハンドリングマシンが装備されており、幅広いサンプルタイプに対応できます。このツールは、最適な柔軟性とFIB/SEMベースの解析システムへの統合を目的としています。また、非常に小さいものから大きいものまで、さまざまなサンプルサイズを処理することができます。このアセットは、オートキャリブレーションや組み込みソフトウェアなどの高度な機能により、最適なスループットを提供できます。サーモフィッシャーサイエンティフィック/FEI ExSolve 2 WTP EFEMは、過酷な環境での再現性と優れた結果を保証するように設計されています。このモデルのコンポーネントは、FIB/SEMベースの分析装置の過酷な環境に長期的にさらされるように設計されています。また、温度安定性を維持するための熱安定性パッケージを内蔵しています。また、幅広いサンプルタイプやサイズのニーズに柔軟に対応した温度制御を可能にします。FEI ExSolve 2 WTP EFEMは、最も要求の厳しい分析要件に対応する幅広い機能を備えています。動的画像補正、最大ビーム制御と柔軟性、自動入出力制御、高度な地形画像を作成するためのスキャン機能を提供できます。高度な機能と機能を備えたTHERMO FISHER SCIENTIFIC ExSolve 2 WTP EFEMは、柔軟で信頼性の高い高性能イオンミリングユニットを必要とするラボに最適です。
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